321 துருப்பிடிக்காத எஃகு சுருள் குழாய் இரசாயன கலவை இயந்திர பண்புகள் மற்றும் ஒரு புதிய மின்முனையுடன் டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத எஃகு வெல்டின் அரிப்பு நடத்தை

Nature.com ஐப் பார்வையிட்டதற்கு நன்றி.வரையறுக்கப்பட்ட CSS ஆதரவுடன் உலாவிப் பதிப்பைப் பயன்படுத்துகிறீர்கள்.சிறந்த அனுபவத்திற்கு, புதுப்பிக்கப்பட்ட உலாவியைப் பயன்படுத்துமாறு பரிந்துரைக்கிறோம் (அல்லது Internet Explorer இல் இணக்கத்தன்மை பயன்முறையை முடக்கவும்).கூடுதலாக, தொடர்ந்து ஆதரவை உறுதிப்படுத்த, தளத்தை பாணிகள் மற்றும் ஜாவாஸ்கிரிப்ட் இல்லாமல் காட்டுகிறோம்.
ஒரு ஸ்லைடிற்கு மூன்று கட்டுரைகளைக் காட்டும் ஸ்லைடர்கள்.ஸ்லைடுகளின் வழியாக செல்ல பின் மற்றும் அடுத்த பட்டன்களைப் பயன்படுத்தவும் அல்லது ஒவ்வொரு ஸ்லைடையும் நகர்த்த இறுதியில் ஸ்லைடு கன்ட்ரோலர் பொத்தான்களைப் பயன்படுத்தவும்.

துருப்பிடிக்காத எஃகு 321 சுருள் குழாய் இரசாயன கலவை

321 துருப்பிடிக்காத எஃகு சுருள் குழாய்களின் வேதியியல் கலவை பின்வருமாறு:
- கார்பன்: 0.08% அதிகபட்சம்
- மாங்கனீசு: 2.00% அதிகபட்சம்
- நிக்கல்: 9.00% நிமிடம்

துருப்பிடிக்காத எஃகு 321 சுருள் குழாய் இயந்திர பண்புகள்

துருப்பிடிக்காத எஃகு 321 சுருள் குழாய் உற்பத்தியாளரின் கூற்றுப்படி, துருப்பிடிக்காத எஃகு 321 சுருள் குழாய்களின் இயந்திர பண்புகள் கீழே அட்டவணைப்படுத்தப்பட்டுள்ளன: இழுவிசை வலிமை (psi) மகசூல் வலிமை (psi) நீட்டிப்பு (%)

துருப்பிடிக்காத எஃகு 321 சுருள் குழாயின் பயன்பாடுகள் மற்றும் பயன்பாடுகள்

பல பொறியியல் பயன்பாடுகளில், டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத எஃகு (டிஎஸ்எஸ்) வெல்டட் கட்டமைப்புகளின் இயந்திர மற்றும் அரிப்பு பண்புகள் மிக முக்கியமான காரணிகளாகும்.தற்போதைய ஆய்வு, ஃப்ளக்ஸ் மாதிரிகளில் கலப்பு கூறுகளைச் சேர்க்காமல் சிறப்பாக வடிவமைக்கப்பட்ட புதிய மின்முனையைப் பயன்படுத்தி 3.5% NaCl ஐ உருவகப்படுத்தும் சூழலில் டூப்ளக்ஸ் ஸ்டெயின்லெஸ் ஸ்டீல் வெல்ட்களின் இயந்திர பண்புகள் மற்றும் அரிப்பு எதிர்ப்பை ஆய்வு செய்தது.2.40 மற்றும் 0.40 இன் அடிப்படைக் குறியீட்டுடன் இரண்டு வெவ்வேறு வகையான ஃப்ளக்ஸ்கள் முறையே டிஎஸ்எஸ் பலகைகளை வெல்டிங் செய்ய E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளில் பயன்படுத்தப்பட்டன.தெர்மோகிராவிமெட்ரிக் பகுப்பாய்வைப் பயன்படுத்தி ஃப்ளக்ஸ் கலவைகளின் வெப்ப நிலைத்தன்மை மதிப்பீடு செய்யப்பட்டது.பல்வேறு ASTM தரநிலைகளின்படி உமிழ்வு ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபியைப் பயன்படுத்தி வெல்டட் மூட்டுகளின் இரசாயன கலவை மற்றும் இயந்திர மற்றும் அரிப்பு பண்புகள் மதிப்பீடு செய்யப்பட்டன.எக்ஸ்ரே டிஃப்ராஃப்ரக்ஷன் டிஎஸ்எஸ் வெல்ட்களில் இருக்கும் கட்டங்களைத் தீர்மானிக்கப் பயன்படுகிறது, மேலும் ஈடிஎஸ் உடன் எலக்ட்ரான் ஸ்கேனிங் வெல்ட்களின் நுண் கட்டமைப்பை ஆய்வு செய்யப் பயன்படுகிறது.E1 மின்முனைகளால் செய்யப்பட்ட பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் இழுவிசை வலிமை 715-732 MPa க்குள் இருந்தது, E2 மின்முனைகளால் - 606-687 MPa.வெல்டிங் மின்னோட்டம் 90 ஏ இலிருந்து 110 ஏ ஆக அதிகரிக்கப்பட்டுள்ளது, மேலும் கடினத்தன்மையும் அதிகரித்துள்ளது.அடிப்படை ஃப்ளக்ஸ்களுடன் பூசப்பட்ட E1 மின்முனைகளுடன் கூடிய வெல்டட் மூட்டுகள் சிறந்த இயந்திர பண்புகளைக் கொண்டுள்ளன.எஃகு அமைப்பு 3.5% NaCl சூழலில் அதிக அரிப்பு எதிர்ப்பைக் கொண்டுள்ளது.புதிதாக உருவாக்கப்பட்ட மின்முனைகளுடன் செய்யப்பட்ட வெல்டட் மூட்டுகளின் செயல்பாட்டை இது உறுதிப்படுத்துகிறது.பூசப்பட்ட மின்முனைகள் E1 மற்றும் E2 உடன் வெல்ட்களில் காணப்பட்ட Cr மற்றும் Mo போன்ற கலப்பு கூறுகளின் குறைவு மற்றும் E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி செய்யப்பட்ட வெல்ட்களில் Cr2N வெளியீடு ஆகியவற்றின் அடிப்படையில் முடிவுகள் விவாதிக்கப்படுகின்றன.
வரலாற்று ரீதியாக, டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத எஃகு (டிஎஸ்எஸ்) பற்றிய முதல் அதிகாரப்பூர்வ குறிப்பு 1927 ஆம் ஆண்டிலிருந்து தொடங்குகிறது, இது சில வார்ப்புகளுக்கு மட்டுமே பயன்படுத்தப்பட்டது மற்றும் அதிக கார்பன் உள்ளடக்கம் காரணமாக பெரும்பாலான தொழில்நுட்ப பயன்பாடுகளில் பயன்படுத்தப்படவில்லை.ஆனால் பின்னர், நிலையான கார்பன் உள்ளடக்கம் அதிகபட்சமாக 0.03% ஆகக் குறைக்கப்பட்டது, மேலும் இந்த இரும்புகள் பல்வேறு துறைகளில் பரவலாகப் பயன்படுத்தப்பட்டன2,3.டிஎஸ்எஸ் என்பது ஃபெரைட் மற்றும் ஆஸ்டெனைட் தோராயமாக சம அளவு கொண்ட உலோகக் கலவைகளின் குடும்பமாகும்.20 ஆம் நூற்றாண்டில் ஆஸ்டெனிடிக் ஸ்டெயின்லெஸ் ஸ்டீல்களுக்கு (ஏஎஸ்எஸ்) முக்கியமான பிரச்சினையாக இருந்த குளோரைடு தூண்டப்பட்ட அழுத்த அரிப்பு விரிசல் (எஸ்சிசி) க்கு எதிராக டிஎஸ்எஸ்ஸில் உள்ள ஃபெரிடிக் கட்டம் சிறந்த பாதுகாப்பை வழங்குகிறது என்று ஆராய்ச்சி காட்டுகிறது.மறுபுறம், சில பொறியியல் மற்றும் பிற தொழில்களில்4 சேமிப்பிற்கான தேவை ஆண்டுக்கு 20% வரை அதிகரித்து வருகிறது.இரண்டு-கட்ட ஆஸ்டெனிடிக்-ஃபெரிடிக் கட்டமைப்பைக் கொண்ட இந்த புதுமையான எஃகு பொருத்தமான கலவை தேர்வு, இயற்பியல்-வேதியியல் மற்றும் தெர்மோமெக்கானிக்கல் சுத்திகரிப்பு மூலம் பெறலாம்.ஒற்றை-கட்ட துருப்பிடிக்காத எஃகுடன் ஒப்பிடும்போது, ​​DSS ஆனது அதிக மகசூல் வலிமை மற்றும் SCC5, 6, 7, 8 ஆகியவற்றைத் தாங்கும் சிறந்த திறனைக் கொண்டுள்ளது. டூப்ளக்ஸ் அமைப்பு இந்த இரும்புகளுக்கு மீறமுடியாத வலிமை, கடினத்தன்மை மற்றும் அமிலங்கள், அமில குளோரைடுகள் கொண்ட ஆக்கிரமிப்பு சூழல்களில் அதிகரித்த அரிப்பு எதிர்ப்பை வழங்குகிறது. கடல் நீர் மற்றும் அரிக்கும் இரசாயனங்கள்9.பொதுச் சந்தையில் நிக்கல் (நி) உலோகக் கலவைகளின் ஆண்டு விலை ஏற்ற இறக்கங்கள் காரணமாக, டிஎஸ்எஸ் அமைப்பு, குறிப்பாக குறைந்த நிக்கல் வகை (லீன் டிஎஸ்எஸ்), முகம் மையப்படுத்தப்பட்ட கன (எஃப்சிசி) இரும்புடன் ஒப்பிடும்போது பல சிறந்த சாதனைகளை எட்டியுள்ளது, 11. முக்கிய ASE வடிவமைப்புகளின் பிரச்சனை என்னவென்றால், அவை பல்வேறு கடுமையான நிலைமைகளுக்கு உட்பட்டுள்ளன.எனவே, பல்வேறு பொறியியல் துறைகளும் நிறுவனங்களும் மாற்று குறைந்த நிக்கல் (Ni) துருப்பிடிக்காத எஃகுகளை மேம்படுத்துவதற்கு முயற்சி செய்கின்றன, அவை பாரம்பரிய ASS ஐ விட பொருத்தமான வெல்டபிலிட்டியுடன் சிறப்பாக செயல்படுகின்றன மற்றும் கடல் நீர் வெப்பப் பரிமாற்றிகள் மற்றும் இரசாயனத் தொழில் போன்ற தொழில்துறை பயன்பாடுகளில் பயன்படுத்தப்படுகின்றன.குளோரைடுகளின் அதிக செறிவு கொண்ட சூழல்களுக்கான கொள்கலன் 13.
நவீன தொழில்நுட்ப முன்னேற்றத்தில், பற்றவைக்கப்பட்ட உற்பத்தி முக்கிய பங்கு வகிக்கிறது.பொதுவாக, டிஎஸ்எஸ் கட்டமைப்பு உறுப்பினர்கள் கேஸ் ஷீல்டு ஆர்க் வெல்டிங் அல்லது கேஸ் ஷீல்டு ஆர்க் வெல்டிங் மூலம் இணைக்கப்படுகிறார்கள்.வெல்டிங்கிற்குப் பயன்படுத்தப்படும் மின்முனையின் கலவையால் வெல்ட் முக்கியமாக பாதிக்கப்படுகிறது.வெல்டிங் மின்முனைகள் இரண்டு பகுதிகளைக் கொண்டிருக்கின்றன: உலோகம் மற்றும் ஃப்ளக்ஸ்.பெரும்பாலும், மின்முனைகள் உலோகங்களின் கலவையான ஃப்ளக்ஸ் மூலம் பூசப்படுகின்றன, அவை சிதைந்தால், வாயுக்களை வெளியிடுகின்றன மற்றும் வெல்டிங் மாசுபாட்டிலிருந்து பாதுகாக்க ஒரு பாதுகாப்பு கசடுகளை உருவாக்குகின்றன, ஆர்க்கின் நிலைத்தன்மையை அதிகரிக்கின்றன, மேலும் வெல்டிங்கின் தரத்தை மேம்படுத்த ஒரு கலவை கூறுகளை சேர்க்கின்றன. .வார்ப்பிரும்பு, அலுமினியம், துருப்பிடிக்காத எஃகு, லேசான எஃகு, அதிக வலிமை கொண்ட எஃகு, தாமிரம், பித்தளை மற்றும் வெண்கலம் ஆகியவை வெல்டிங் எலக்ட்ரோடு உலோகங்களில் சில, செல்லுலோஸ், இரும்புத் தூள் மற்றும் ஹைட்ரஜன் ஆகியவை சில ஃப்ளக்ஸ் பொருட்கள் பயன்படுத்தப்படுகின்றன.சில நேரங்களில் சோடியம், டைட்டானியம் மற்றும் பொட்டாசியம் ஆகியவை ஃப்ளக்ஸ் கலவையில் சேர்க்கப்படுகின்றன.
சில ஆராய்ச்சியாளர்கள் பற்றவைக்கப்பட்ட எஃகு கட்டமைப்புகளின் இயந்திர மற்றும் அரிப்பு ஒருமைப்பாட்டின் மீது மின்முனை கட்டமைப்பின் விளைவை ஆய்வு செய்ய முயன்றனர்.சிங் மற்றும் பலர்.15 நீரில் மூழ்கிய ஆர்க் வெல்டிங் மூலம் பற்றவைக்கப்பட்ட வெல்ட்களின் நீளம் மற்றும் இழுவிசை வலிமையில் ஃப்ளக்ஸ் கலவையின் விளைவை ஆய்வு செய்தது.FeMn இன் இருப்புடன் ஒப்பிடும்போது CaF2 மற்றும் NiO ஆகியவை இழுவிசை வலிமையின் முக்கிய தீர்மானிப்பதாக முடிவுகள் காட்டுகின்றன.சிராக் மற்றும் பலர்.16 எலக்ட்ரோடு ஃப்ளக்ஸ் கலவையில் ரூட்டில் (TiO2) செறிவை மாற்றுவதன் மூலம் SMAW சேர்மங்களை ஆய்வு செய்தனர்.கார்பன் மற்றும் சிலிக்கானின் சதவீதம் மற்றும் இடம்பெயர்வு அதிகரிப்பு காரணமாக மைக்ரோஹார்ட்னெஸின் பண்புகள் அதிகரித்தது கண்டறியப்பட்டது.குமார் [17] எஃகுத் தாள்களின் நீரில் மூழ்கிய ஆர்க் வெல்டிங்கிற்கான ஒருங்கிணைந்த ஃப்ளக்ஸ்களின் வடிவமைப்பு மற்றும் மேம்பாட்டை ஆய்வு செய்தார்.Nwigbo மற்றும் Atuanya18 ஆர்க் வெல்டிங் ஃப்ளக்ஸ் உற்பத்திக்கு பொட்டாசியம் நிறைந்த சோடியம் சிலிக்கேட் பைண்டர்களைப் பயன்படுத்துவதை ஆராய்ந்தனர் மற்றும் 430 MPa இன் உயர் இழுவிசை வலிமை மற்றும் ஏற்றுக்கொள்ளக்கூடிய தானிய அமைப்பைக் கொண்ட வெல்ட்களைக் கண்டறிந்தனர்.Lothongkum et al.19 3.5% wt செறிவில் காற்று-நிறைவுற்ற NaCl கரைசலில் 28Cr–7Ni-O–0.34N டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத எஃகில் உள்ள ஆஸ்டெனைட்டின் தொகுதிப் பகுதியை ஆய்வு செய்ய பொட்டென்டியோகினெடிக் முறையைப் பயன்படுத்தினர்.pH நிலைமைகளின் கீழ்.மற்றும் 27°C.டூப்ளக்ஸ் மற்றும் மைக்ரோ டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத இரும்புகள் இரண்டும் அரிப்பு நடத்தையில் நைட்ரஜனின் ஒரே விளைவைக் காட்டுகின்றன.நைட்ரஜன் அரிப்பு திறன் அல்லது pH 7 மற்றும் 10 விகிதத்தை பாதிக்கவில்லை, இருப்பினும், pH 10 இல் அரிப்பு திறன் pH 7 ஐ விட குறைவாக இருந்தது. மறுபுறம், ஆய்வு செய்யப்பட்ட அனைத்து pH அளவுகளிலும், நைட்ரஜன் உள்ளடக்கம் அதிகரிப்பதன் மூலம் சாத்தியம் அதிகரிக்கத் தொடங்கியது. .லாசெர்டா மற்றும் பலர்.20 டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத இரும்புகள் UNS S31803 மற்றும் UNS S32304 ஆகியவற்றை 3.5% NaCl கரைசலில் சுழற்சி பொட்டென்டோடைனமிக் துருவமுனைப்பைப் பயன்படுத்தி ஆய்வு செய்தனர்.NaCl இன் 3.5 wt.% கரைசலில், ஆய்வு செய்யப்பட்ட இரண்டு எஃகு தகடுகளில் குழியின் அறிகுறிகள் காணப்பட்டன.UNS S31803 எஃகு UNS S32304 ஸ்டீலை விட அதிக அரிப்பு திறன் (Ecorr), பிட்டிங் திறன் (Epit) மற்றும் துருவமுனைப்பு எதிர்ப்பு (Rp) ஆகியவற்றைக் கொண்டுள்ளது.யுஎன்எஸ் எஸ்31803 எஃகு, யுஎன்எஸ் எஸ்32304 எஃகு விட அதிக மறுசெயல்திறன் கொண்டது.ஜியாங் மற்றும் பலர் நடத்திய ஆய்வின்படி.[21], டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத எஃகின் இரட்டை கட்டத்திற்கு (ஆஸ்டெனைட் மற்றும் ஃபெரைட் கட்டம்) தொடர்புடைய மறுசெயல்படுத்தும் உச்சமானது ஃபெரைட் கலவையில் 65% வரை உள்ளடக்கியது, மேலும் வெப்பச் சிகிச்சை நேரம் அதிகரிக்கும் போது ஃபெரைட் மீண்டும் செயல்படுத்தும் மின்னோட்ட அடர்த்தி அதிகரிக்கிறது.ஆஸ்டெனிடிக் மற்றும் ஃபெரிடிக் கட்டங்கள் வெவ்வேறு மின்வேதியியல் ஆற்றல்களில் வெவ்வேறு மின்வேதியியல் எதிர்வினைகளை வெளிப்படுத்துகின்றன என்பது அனைவரும் அறிந்ததே.Abdo et al.25 செயற்கை கடல்நீரில் (3.5% NaCl) அமிலத்தன்மை மற்றும் காரத்தன்மையின் நிலைமைகளின் கீழ் லேசர்-வெல்டட் 2205 DSS கலவையின் மின்வேதியியல் ரீதியாக தூண்டப்பட்ட அரிப்பை ஆய்வு செய்ய துருவமுனைப்பு நிறமாலை மற்றும் மின்வேதியியல் மின்மறுப்பு நிறமாலையின் பொட்டென்டோடைனமிக் அளவீடுகளைப் பயன்படுத்தியது.சோதனை செய்யப்பட்ட டிஎஸ்எஸ் மாதிரிகளின் வெளிப்படும் பரப்புகளில் குழி அரிப்பு காணப்பட்டது.இந்த கண்டுபிடிப்புகளின் அடிப்படையில், கரைக்கும் ஊடகத்தின் pH மற்றும் சார்ஜ் பரிமாற்றத்தின் செயல்பாட்டில் உருவான படத்தின் எதிர்ப்பிற்கும் இடையே ஒரு விகிதாசார உறவு உள்ளது, இது பிட்டிங் மற்றும் அதன் விவரக்குறிப்பு உருவாக்கத்தை நேரடியாக பாதிக்கிறது.இந்த ஆய்வின் நோக்கம், புதிதாக உருவாக்கப்பட்ட வெல்டிங் எலக்ட்ரோடு கலவையானது 3.5% NaCl சூழலில் வெல்டட் DSS 2205 இன் இயந்திர மற்றும் உடைகள்-எதிர்ப்பு ஒருமைப்பாட்டை எவ்வாறு பாதிக்கிறது என்பதைப் புரிந்துகொள்வதாகும்.
எலக்ட்ரோடு பூச்சு சூத்திரங்களில் பயன்படுத்தப்படும் ஃப்ளக்ஸ் தாதுக்கள் (பொருட்கள்) ஒபாஜானா மாவட்டம், கோகி மாநிலம், நைஜீரியாவில் இருந்து கால்சியம் கார்பனேட் (CaCO3), நைஜீரியாவின் தாராபா மாநிலத்திலிருந்து கால்சியம் ஃப்ளூரைடு (CaF2), சிலிக்கான் டை ஆக்சைடு (SiO2), டால்க் பவுடர் (Mg3(SiH4) ) )2) மற்றும் ரூட்டில் (TiO2) நைஜீரியாவின் ஜோஸிலிருந்து பெறப்பட்டது, மேலும் கயோலின் (Al2(OH)4Si2O5) நைஜீரியாவின் கட்சினா மாநிலத்தின் கங்காராவிலிருந்து பெறப்பட்டது.பொட்டாசியம் சிலிக்கேட் ஒரு பைண்டராகப் பயன்படுத்தப்படுகிறது, இது இந்தியாவிலிருந்து பெறப்படுகிறது.
அட்டவணை 1 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, தொகுதி ஆக்சைடுகள் டிஜிட்டல் சமநிலையில் சுயாதீனமாக எடைபோடப்பட்டன.இந்திய ஸ்டீல் அண்ட் வயர் புராடக்ட்ஸ் லிமிடெட் (ISWP) இலிருந்து ஒரு எலக்ட்ரிக் கலவையில் (மாடல்: 641-048) பொட்டாசியம் சிலிக்கேட் பைண்டருடன் (எடையில் 23%) 30 நிமிடங்களுக்கு ஒரே மாதிரியான அரை-திட பேஸ்ட்டைப் பெற இது கலக்கப்பட்டது.ஈரமான கலந்த ஃப்ளக்ஸ் ப்ரிக்வெட்டிங் இயந்திரத்திலிருந்து உருளை வடிவில் அழுத்தப்பட்டு, 80 முதல் 100 கிலோ/செ.மீ.2 அழுத்தத்தில் எக்ஸ்ட்ரூஷன் அறைக்குள் செலுத்தப்படுகிறது, மேலும் கம்பி ஊட்ட அறையிலிருந்து 3.15 மிமீ விட்டம் கொண்ட துருப்பிடிக்காத கம்பி வெளியேற்றத்தில் செலுத்தப்படுகிறது.ஃப்ளக்ஸ் ஒரு முனை/டை அமைப்பு மூலம் ஊட்டப்பட்டு, மின்முனைகளை வெளியேற்ற எக்ஸ்ட்ரூடரில் செலுத்தப்படுகிறது.1.70 மிமீ கவரேஜ் காரணி பெறப்பட்டது, அங்கு கவரேஜ் காரணி என்பது மின்முனை விட்டம் மற்றும் ஸ்ட்ராண்ட் விட்டம் விகிதமாக வரையறுக்கப்படுகிறது.பின்னர் பூசப்பட்ட மின்முனைகள் 24 மணிநேரம் காற்றில் உலர்த்தப்பட்டு, பின்னர் 150-250 °C\(-\) வெப்பநிலையில் ஒரு மஃபிள் உலையில் (மாடல் PH-248-0571/5448) 2 மணி நேரம் கணக்கிடப்பட்டது.ஓட்டத்தின் காரத்தன்மையைக் கணக்கிட சமன்பாட்டைப் பயன்படுத்தவும்.(1) 26;
E1 மற்றும் E2 கலவைகளின் ஃப்ளக்ஸ் மாதிரிகளின் வெப்ப நிலைத்தன்மை தெர்மோகிராவிமெட்ரிக் பகுப்பாய்வு (TGA) ஐப் பயன்படுத்தி தீர்மானிக்கப்பட்டது.தோராயமாக 25.33 mg ஃப்ளக்ஸ் மாதிரியானது TGA இல் பகுப்பாய்வுக்காக ஏற்றப்பட்டது.60 மில்லி/நிமிடத்தில் N2 இன் தொடர்ச்சியான ஓட்டத்தால் பெறப்பட்ட ஒரு செயலற்ற ஊடகத்தில் சோதனைகள் மேற்கொள்ளப்பட்டன.மாதிரியானது 30°C முதல் 1000°C வரை 10°C/min என்ற வெப்ப விகிதத்தில் சூடேற்றப்பட்டது.Wang et al.27, Xu et al.28 மற்றும் Dagwa et al.29 ஆகியோரால் குறிப்பிடப்பட்ட முறைகளைப் பின்பற்றி, குறிப்பிட்ட வெப்பநிலையில் மாதிரிகளின் வெப்பச் சிதைவு மற்றும் எடை இழப்பு ஆகியவை TGA அடுக்குகளிலிருந்து மதிப்பிடப்பட்டன.
சாலிடரிங் செய்வதற்கு இரண்டு 300 x 60 x 6 மிமீ DSS தட்டுகளைச் செயலாக்கவும்.V-பள்ளம் 3 மிமீ ரூட் இடைவெளி, 2 மிமீ வேர் துளை மற்றும் 60 டிகிரி பள்ளம் கோணத்துடன் வடிவமைக்கப்பட்டுள்ளது.சாத்தியமான அசுத்தங்களை அகற்ற தட்டு பின்னர் அசிட்டோன் மூலம் துவைக்கப்பட்டது.பூசப்பட்ட மின்முனைகள் (E1 மற்றும் E2) மற்றும் 3.15 மிமீ விட்டம் கொண்ட ஒரு குறிப்பு மின்முனை (C) ஆகியவற்றைப் பயன்படுத்தி நேரடி மின்னோட்ட நேர்மறை துருவமுனைப்புடன் (DCEP) கவச உலோக ஆர்க் வெல்டரை (SMAW) பயன்படுத்தி தட்டுகளை வெல்ட் செய்யவும்.எலெக்ட்ரிக்கல் டிஸ்சார்ஜ் மெஷினிங் (EDM) (மாடல்: Excetek-V400) இயந்திர சோதனை மற்றும் அரிப்பு தன்மைக்காக வெல்டட் செய்யப்பட்ட எஃகு மாதிரிகளை இயந்திரமாக்க பயன்படுத்தப்பட்டது.அட்டவணை 2 எடுத்துக்காட்டு குறியீடு மற்றும் விளக்கத்தைக் காட்டுகிறது, மேலும் அட்டவணை 3 டிஎஸ்எஸ் போர்டை வெல்ட் செய்யப் பயன்படுத்தப்படும் பல்வேறு வெல்டிங் இயக்க அளவுருக்களைக் காட்டுகிறது.சமன்பாடு (2) தொடர்புடைய வெப்ப உள்ளீட்டைக் கணக்கிடப் பயன்படுகிறது.
110 முதல் 800 nm அலைநீளம் கொண்ட Bruker Q8 MAGELLAN ஆப்டிகல் எமிஷன் ஸ்பெக்ட்ரோமீட்டர் (OES) மற்றும் SQL தரவுத்தள மென்பொருளைப் பயன்படுத்தி, E1, E2 மற்றும் C மின்முனைகளின் வெல்ட் மூட்டுகளின் வேதியியல் கலவை மற்றும் அடிப்படை உலோகத்தின் மாதிரிகள் ஆகியவை தீர்மானிக்கப்பட்டது.சோதனையின் கீழ் மின்முனைக்கும் உலோக மாதிரிக்கும் இடையே உள்ள இடைவெளியைப் பயன்படுத்துகிறது ஒரு தீப்பொறி வடிவில் மின் ஆற்றலை உருவாக்குகிறது.கூறுகளின் மாதிரி ஆவியாகி தெளிக்கப்படுகிறது, அதைத் தொடர்ந்து அணு தூண்டுதல், பின்னர் ஒரு குறிப்பிட்ட வரி நிறமாலையை வெளியிடுகிறது.மாதிரியின் தரமான பகுப்பாய்விற்கு, ஃபோட்டோமல்டிபிளையர் குழாய் ஒவ்வொரு உறுப்புக்கும் ஒரு பிரத்யேக நிறமாலை இருப்பதையும், ஸ்பெக்ட்ரமின் தீவிரத்தையும் அளவிடுகிறது.பின்னர் சமன்பாட்டைப் பயன்படுத்தி சமமான பிட்டிங் ரெசிஸ்டன்ஸ் எண்ணைக் (PREN) கணக்கிடவும்.(3) விகிதம் 32 மற்றும் WRC 1992 மாநில வரைபடம் ஆகியவை சமன்பாடுகளிலிருந்து குரோமியம் மற்றும் நிக்கல் சமமானவை (Creq மற்றும் Nieq) கணக்கிட பயன்படுத்தப்படுகின்றன.(4) மற்றும் (5) முறையே 33 மற்றும் 34;
நைட்ரஜன் காரணி x 16-30 வரம்பில் இருக்கும் போது PREN ஆனது Cr, Mo மற்றும் N ஆகிய மூன்று முக்கிய தனிமங்களின் நேர்மறையான தாக்கத்தை மட்டுமே கணக்கில் எடுத்துக்கொள்கிறது.பொதுவாக, x 16, 20 அல்லது 30 பட்டியலிலிருந்து தேர்ந்தெடுக்கப்பட்டது. டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத இரும்புகள் பற்றிய ஆராய்ச்சியில், PREN35,36 மதிப்புகளைக் கணக்கிட 20 இன் இடைநிலை மதிப்பு பொதுவாகப் பயன்படுத்தப்படுகிறது.
வெவ்வேறு மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி செய்யப்பட்ட வெல்டட் மூட்டுகள் ASTM E8-21 க்கு இணங்க 0.5 மிமீ/நிமிடத்தின் திரிபு விகிதத்தில் உலகளாவிய சோதனை இயந்திரத்தில் (இன்ஸ்ட்ரான் 8800 UTM) இழுவிசை சோதனை செய்யப்பட்டன.இழுவிசை வலிமை (UTS), 0.2% வெட்டு மகசூல் வலிமை (YS) மற்றும் நீளம் ASTM E8-2137 இன் படி கணக்கிடப்பட்டது.
DSS 2205 வெல்ட்மென்ட்கள் கடினத்தன்மை பகுப்பாய்விற்கு முன் வெவ்வேறு கட்ட அளவுகளை (120, 220, 320, 400, 600, 800, 1000 மற்றும் 1200) பயன்படுத்தி முதலில் தரையிறக்கி மெருகூட்டப்பட்டன.வெல்டட் மாதிரிகள் மின்முனைகள் E1, E2 மற்றும் C. கடினத்தன்மை பத்து (10) புள்ளிகளில் வெல்டின் மையத்திலிருந்து அடிப்படை உலோகம் வரை 1 மிமீ இடைவெளியில் அளவிடப்படுகிறது.
X-ray diffractometer (D8 Discover, Bruker, Germany) தரவு சேகரிப்புக்கான Bruker XRD கமாண்டர் மென்பொருள் மற்றும் Fe-வடிகட்டப்பட்ட Cu-K-α கதிர்வீச்சு 1.5406 Å அலைநீளத்துடன் தொடர்புடைய 8.04 keV மற்றும் ஸ்கேன் வீதம் 3 உடன் கட்டமைக்கப்பட்டது. ° ஸ்கேன் வரம்பு (2θ) நிமிடம்-1 என்பது 38 முதல் 103° வரையிலான கட்டப் பகுப்பாய்விற்கு E1, E2 மற்றும் C மற்றும் BM மின்முனைகள் DSS வெல்ட்களில் உள்ளன.Lutterotti39 விவரித்த MAUD மென்பொருளைப் பயன்படுத்தி, தொகுதிக் கட்டங்களை அட்டவணைப்படுத்த, Rietveld சுத்திகரிப்பு முறை பயன்படுத்தப்பட்டது.ASTM E1245-03 இன் அடிப்படையில், இமேஜ் ஜே40 மென்பொருளைப் பயன்படுத்தி E1, E2 மற்றும் C ஆகிய மின்முனைகளின் வெல்ட் மூட்டுகளின் நுண்ணிய படங்களின் அளவு மெட்டாலோகிராஃபிக் பகுப்பாய்வு மேற்கொள்ளப்பட்டது.ஃபெரைட்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தின் தொகுதிப் பகுதியைக் கணக்கிடுவதற்கான முடிவுகள், அவற்றின் சராசரி மதிப்பு மற்றும் விலகல் அட்டவணையில் கொடுக்கப்பட்டுள்ளன.5. படம் மாதிரி உள்ளமைவில் காட்டப்பட்டுள்ளது.6d இல், மாதிரிகளின் உருவ அமைப்பை ஆய்வு செய்வதற்காக PM மற்றும் E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளுடன் கூடிய வெல்டட் மூட்டுகளில் ஆப்டிகல் மைக்ரோஸ்கோபி (OM) பகுப்பாய்வு செய்யப்பட்டது.மாதிரிகள் 120, 220, 320, 400, 600, 800, 1000, 1200, 1500 மற்றும் 2000 கிரிட் சிலிக்கான் கார்பைடு (SiC) மணர்த்துகள்கள் கொண்ட காகிதம் மூலம் மெருகூட்டப்பட்டன.மாதிரிகள் பின்னர் 10 வினாடிகளுக்கு 5 V மின்னழுத்தத்தில் அறை வெப்பநிலையில் 10% அக்வஸ் ஆக்சாலிக் அமிலக் கரைசலில் மின்னாற்பகுப்பு முறையில் பொறிக்கப்பட்டு, உருவவியல் தன்மைக்காக LEICA DM 2500 M ஆப்டிகல் மைக்ரோஸ்கோப்பில் வைக்கப்பட்டன.SEM-BSE பகுப்பாய்விற்காக 2500 கிரிட் சிலிக்கான் கார்பைடு (SiC) காகிதத்தைப் பயன்படுத்தி மாதிரியின் மேலும் மெருகூட்டல் செய்யப்பட்டது.கூடுதலாக, EMF பொருத்தப்பட்ட அல்ட்ரா-ஹை ரெசல்யூஷன் ஃபீல்ட் எமிஷன் ஸ்கேனிங் எலக்ட்ரான் மைக்ரோஸ்கோப் (SEM) (FEI NOVA NANOSEM 430, USA) ஐப் பயன்படுத்தி பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகள் நுண் கட்டமைப்புக்காக ஆய்வு செய்யப்பட்டன.20 × 10 × 6 மிமீ மாதிரியானது 120 முதல் 2500 வரையிலான பல்வேறு SiC மணர்த்துகள்கள் கொண்ட காகிதங்களைப் பயன்படுத்தி தரையிறக்கப்பட்டது. மாதிரிகள் 40 கிராம் NaOH மற்றும் 100 மில்லி காய்ச்சி வடிகட்டிய நீரில் 15 வினாடிகளுக்கு 5 V மின்னழுத்தத்தில் மின்னாற்பகுப்பு முறையில் பொறிக்கப்பட்டன, பின்னர் நைட்ரஜனுடன் அறையை சுத்தப்படுத்திய பிறகு மாதிரிகளை பகுப்பாய்வு செய்வதற்காக, SEM அறையில் அமைந்துள்ள மாதிரி வைத்திருப்பவர் மீது பொருத்தப்பட்டுள்ளது.ஒரு சூடான டங்ஸ்டன் இழையால் உருவாக்கப்பட்ட எலக்ட்ரான் கற்றை, பல்வேறு உருப்பெருக்கங்களில் படங்களை உருவாக்க மாதிரியில் ஒரு கிராட்டிங்கை உருவாக்குகிறது, மேலும் EMF முடிவுகள் ரோச் மற்றும் பலர் முறைகளைப் பயன்படுத்தி பெறப்பட்டுள்ளன.41 மற்றும் மொகோபி 42 .
ASTM G59-9743 மற்றும் ASTM G5-1444 இன் படி ஒரு மின்வேதியியல் பொட்டென்டோடைனமிக் துருவமுனைப்பு முறையானது 3.5% NaCl சூழலில் E1, E2 மற்றும் C மின்முனைகளுடன் பற்றவைக்கப்பட்ட DSS 2205 தகடுகளின் சிதைவு திறனை மதிப்பிடுவதற்குப் பயன்படுத்தப்பட்டது.மின்வேதியியல் சோதனைகள் கணினி-கட்டுப்பாட்டு Potentiostat-Galvanostat/ZRA கருவியைப் பயன்படுத்தி நிகழ்த்தப்பட்டன (மாதிரி: PC4/750, Gamry Instruments, USA).மூன்று-எலக்ட்ரோடு சோதனை அமைப்பில் மின்வேதியியல் சோதனை மேற்கொள்ளப்பட்டது: டிஎஸ்எஸ் 2205 வேலை செய்யும் மின்முனையாகவும், நிறைவுற்ற கலோமெல் மின்முனை (எஸ்சிஇ) குறிப்பு மின்முனையாகவும் மற்றும் கிராஃபைட் கம்பி எதிர் மின்முனையாகவும்.மின் வேதியியல் கலத்தைப் பயன்படுத்தி அளவீடுகள் மேற்கொள்ளப்பட்டன, இதில் கரைசலின் செயல்பாட்டின் பரப்பளவு வேலை செய்யும் மின்முனையின் பரப்பளவு 0.78 செமீ 2 ஆகும்.1.0 mV/s இன் ஸ்கேன் விகிதத்தில் முன்-நிலைப்படுத்தப்பட்ட OCP (OCP உடன் தொடர்புடையது) இல் -1.0 V முதல் +1.6 V சாத்தியங்களுக்கு இடையே அளவீடுகள் செய்யப்பட்டன.
E1, E2 மற்றும் C எலெக்ட்ரோடுகளால் செய்யப்பட்ட வெல்ட்களின் பிட்டிங் எதிர்ப்பை மதிப்பிடுவதற்கு 3.5% NaCl இல் மின்வேதியியல் பிட்டிங் முக்கியமான வெப்பநிலை சோதனைகள் மேற்கொள்ளப்பட்டன.PB (செயலற்ற மற்றும் டிரான்ஸ்பாஸ்ஸிவ் பகுதிகளுக்கு இடையே) மற்றும் E1, E2, மின்முனைகள் C உடன் வெல்டிங் செய்யப்பட்ட மாதிரிகள் ஆகியவற்றில் உள்ள பிட்டிங் சாத்தியக்கூறுகளின் மீது தெளிவாக உள்ளது. எனவே, வெல்டிங் நுகர்பொருட்களின் பிட்டிங் திறனை துல்லியமாக தீர்மானிக்க CPT அளவீடுகள் செய்யப்படுகின்றன.டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத எஃகு வெல்ட் அறிக்கைகள்45 மற்றும் ASTM G150-1846 ஆகியவற்றின் படி CPT சோதனை நடத்தப்பட்டது.பற்றவைக்கப்பட வேண்டிய ஒவ்வொரு எஃகுகளிலிருந்தும் (S-110A, E1-110A, E2-90A), அடிப்படை, வெல்ட் மற்றும் HAZ மண்டலங்கள் உட்பட 1 செமீ2 பரப்பளவு கொண்ட மாதிரிகள் வெட்டப்பட்டன.மாதிரிகள் மணர்த்துகள்கள் கொண்ட காகிதம் மற்றும் 1 µm அலுமினா தூள் குழம்பு ஆகியவற்றைப் பயன்படுத்தி நிலையான மெட்டாலோகிராஃபிக் மாதிரி தயாரிப்பு நடைமுறைகளின்படி மெருகூட்டப்பட்டன.பாலிஷ் செய்த பிறகு, மாதிரிகள் 2 நிமிடங்களுக்கு அசிட்டோனில் மீயொலி முறையில் சுத்தம் செய்யப்பட்டன.CPT சோதனைக் கலத்தில் 3.5% NaCl சோதனைத் தீர்வு சேர்க்கப்பட்டது மற்றும் ஒரு தெர்மோஸ்டாட்டைப் (Neslab RTE-111) பயன்படுத்தி ஆரம்ப வெப்பநிலை 25°Cக்கு சரிசெய்யப்பட்டது.25 டிகிரி செல்சியஸ் ஆரம்ப சோதனை வெப்பநிலையை அடைந்த பிறகு, ஆர் வாயு 15 நிமிடங்களுக்கு வீசப்பட்டது, பின்னர் மாதிரிகள் கலத்தில் வைக்கப்பட்டு, OCF 15 நிமிடங்களுக்கு அளவிடப்பட்டது.25 ° C இன் ஆரம்ப வெப்பநிலையில் 0.3 V மின்னழுத்தத்தைப் பயன்படுத்துவதன் மூலம் மாதிரி துருவப்படுத்தப்பட்டது, மேலும் மின்னோட்டம் 10 நிமிடங்களுக்கு அளவிடப்பட்டது.கரைசலை 1 °C/min முதல் 50 °C வரை சூடாக்கத் தொடங்குங்கள்.சோதனைக் கரைசலை சூடாக்கும்போது, ​​கரைசலின் வெப்பநிலையைத் தொடர்ந்து கண்காணிக்கவும், நேரம் மற்றும் வெப்பநிலைத் தரவைச் சேமிக்கவும் வெப்பநிலை சென்சார் பயன்படுத்தப்படுகிறது, மேலும் மின்னோட்டத்தை அளவிட பொட்டென்டியோஸ்டாட்/கால்வனோஸ்டாட் பயன்படுத்தப்படுகிறது.ஒரு கிராஃபைட் மின்முனை எதிர் மின்முனையாகப் பயன்படுத்தப்பட்டது, மேலும் அனைத்து ஆற்றல்களும் Ag/AgCl குறிப்பு மின்முனையுடன் ஒப்பிடப்பட்டன.சோதனை முழுவதும் ஆர்கான் சுத்திகரிப்பு செய்யப்பட்டது.
அத்திப்பழத்தில்.1 முறையே அல்கலைன் (E1) மற்றும் அமில (E2) மின்முனைகளின் உற்பத்திக்கு பயன்படுத்தப்படும் F1 மற்றும் F2 ஆகிய ஃப்ளக்ஸ் கூறுகளின் கலவை (எடை சதவீதத்தில்) காட்டுகிறது.பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் இயந்திர மற்றும் உலோகவியல் பண்புகளைக் கணிக்க ஃப்ளக்ஸ் அடிப்படைக் குறியீடு பயன்படுத்தப்படுகிறது.F1 என்பது E1 மின்முனைகளை பூசுவதற்குப் பயன்படுத்தப்படும் ஃப்ளக்ஸின் கூறு ஆகும், இது அல்கலைன் ஃப்ளக்ஸ் என்று அழைக்கப்படுகிறது, ஏனெனில் அதன் அடிப்படை குறியீடு > 1.2 (அதாவது 2.40), மற்றும் F2 என்பது E2 மின்முனைகளை பூசுவதற்குப் பயன்படுத்தப்படும் ஃப்ளக்ஸ் ஆகும், இது அதன் அடிப்படை காரணமாக அமிலப் பாய்ச்சல் என்று அழைக்கப்படுகிறது. குறியீட்டு <0.9 (அதாவது 2.40).0.40).அமிலப் பாய்வுகளுடன் பூசப்பட்ட மின்முனைகளைக் காட்டிலும் பெரும்பாலான சந்தர்ப்பங்களில் அடிப்படைப் பாய்வுகளுடன் பூசப்பட்ட மின்முனைகள் சிறந்த இயந்திர பண்புகளைக் கொண்டுள்ளன என்பது தெளிவாகிறது.இந்த பண்பு எலக்ட்ரோடு E1 க்கான ஃப்ளக்ஸ் கலவை அமைப்பில் அடிப்படை ஆக்சைட்டின் ஆதிக்கத்தின் செயல்பாடாகும்.மாறாக, E2 மின்முனைகளுடன் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளில் காணப்படும் கசடு நீக்கம் (பிரிக்கக்கூடிய தன்மை) மற்றும் குறைந்த ஸ்பேட்டர் ஆகியவை ரூட்டில் அதிக உள்ளடக்கத்துடன் அமில ஃப்ளக்ஸ் பூச்சு கொண்ட மின்முனைகளின் சிறப்பியல்பு ஆகும்.இந்த அவதானிப்பு Gill47 இன் கண்டுபிடிப்புகளுடன் ஒத்துப்போகிறது, கசடு நீக்கம் மற்றும் அமில ஃப்ளக்ஸ் பூசப்பட்ட மின்முனைகளின் குறைந்த சிதறல் ஆகியவற்றில் ரூட்டில் உள்ளடக்கத்தின் விளைவு விரைவான கசடு உறைபனிக்கு பங்களிக்கிறது.மின்முனைகள் E1 மற்றும் E2 பூசுவதற்குப் பயன்படுத்தப்படும் ஃப்ளக்ஸ் அமைப்பில் உள்ள கயோலின் ஒரு மசகு எண்ணெயாகப் பயன்படுத்தப்பட்டது, மேலும் டால்க் பவுடர் மின்முனைகளின் வெளியேற்றத்தை மேம்படுத்தியது.ஃப்ளக்ஸ் அமைப்புகளில் உள்ள பொட்டாசியம் சிலிக்கேட் பைண்டர்கள் சிறந்த வில் பற்றவைப்பு மற்றும் செயல்திறன் நிலைத்தன்மைக்கு பங்களிக்கின்றன, மேலும் அவற்றின் பிசின் பண்புகளுக்கு கூடுதலாக, பற்றவைக்கப்பட்ட தயாரிப்புகளில் கசடு பிரிப்பை மேம்படுத்துகிறது.CaCO3 ஒரு நெட் பிரேக்கர் (ஸ்லாக் பிரேக்கர்) ஃப்ளக்ஸில் இருப்பதால், CaO ஆக வெப்பச் சிதைவின் காரணமாக வெல்டிங்கின் போது நிறைய புகையை உருவாக்குகிறது மற்றும் சுமார் 44% CO2, TiO2 (ஒரு நிகர பில்டர் / ஸ்லாக் முன்னாள்) அளவைக் குறைக்க உதவுகிறது. வெல்டிங் போது புகை .வெல்டிங் மற்றும் ஜிங் மற்றும் பலர் பரிந்துரைத்தபடி கசடு நீக்கத்தை மேம்படுத்துகிறது.48.ஃப்ளூரின் ஃப்ளக்ஸ் (CaF2) என்பது இரசாயன ரீதியாக ஆக்கிரமிப்பு ஃப்ளக்ஸ் ஆகும், இது சாலிடர் தூய்மையை மேம்படுத்துகிறது.Jastrzębska மற்றும் பலர்.49 இந்த ஃப்ளக்ஸ் கலவையின் ஃவுளூரைடு கலவை வெல்ட் தூய்மை பண்புகளில் விளைவைப் புகாரளித்தது.பொதுவாக, வில் நிலைத்தன்மையை மேம்படுத்தவும், கலப்பு கூறுகளைச் சேர்க்கவும், கசடுகளை உருவாக்கவும், உற்பத்தித்திறனை அதிகரிக்கவும் மற்றும் வெல்ட் பூலின் தரத்தை மேம்படுத்தவும் வெல்ட் பகுதியில் ஃப்ளக்ஸ் சேர்க்கப்படுகிறது 50.
TGA-DTG வளைவுகள் படம்.2a மற்றும் 2b ஆகியவை நைட்ரஜன் வளிமண்டலத்தில் 30-1000 டிகிரி செல்சியஸ் வெப்பநிலை வரம்பில் சூடாக்கும்போது மூன்று-நிலை எடை இழப்பைக் காட்டுகின்றன.புள்ளிவிவரங்கள் 2a மற்றும் b இல் உள்ள முடிவுகள், அடிப்படை மற்றும் அமில ஃப்ளக்ஸ் மாதிரிகளுக்கு, TGA வளைவு நேராக கீழே குறைகிறது, அது இறுதியாக வெப்பநிலை அச்சுக்கு இணையாக, முறையே 866.49 ° C மற்றும் 849.10 ° C ஆகும்.படம் 2a மற்றும் 2b இல் TGA வளைவுகளின் தொடக்கத்தில் 1.30% மற்றும் 0.81% எடை இழப்பு ஃப்ளக்ஸ் கூறுகளால் உறிஞ்சப்பட்ட ஈரப்பதம், அத்துடன் மேற்பரப்பு ஈரப்பதத்தின் ஆவியாதல் மற்றும் நீரிழப்பு ஆகியவற்றின் காரணமாகும்.படம் இரண்டாவது மற்றும் மூன்றாவது நிலைகளில் முக்கிய ஃப்ளக்ஸ் மாதிரிகளின் முக்கிய சிதைவுகள்.2a 619.45°C–766.36°C மற்றும் 766.36°C–866.49°C வெப்பநிலை வரம்புகளில் ஏற்பட்டது, மேலும் அவற்றின் எடை இழப்பின் சதவீதம் 2.84 மற்றும் 9.48% ஆகும்., முறையே.665.23°C–745.37°C மற்றும் 745.37°C–849.10°C வெப்பநிலை வரம்பில் இருந்த படம் 7b இல் உள்ள அமிலப் பாய்வு மாதிரிகளுக்கு, அவற்றின் சதவீத எடை இழப்பு முறையே 0.81 மற்றும் 6.73% ஆகும், இதற்குக் காரணம் வெப்ப சிதைவு.ஃப்ளக்ஸ் கூறுகள் கனிமமாக இருப்பதால், ஆவியாகும் பொருட்கள் ஃப்ளக்ஸ் கலவையில் மட்டுமே இருக்கும்.எனவே, குறைப்பு மற்றும் ஆக்சிஜனேற்றம் பயங்கரமானது.இது Balogun et al.51, Kamli et al.52 மற்றும் Adeleke et al.53 ஆகியவற்றின் முடிவுகளுடன் ஒத்துப்போகிறது.அத்தியில் காணப்பட்ட ஃப்ளக்ஸ் மாதிரியின் வெகுஜன இழப்பின் கூட்டுத்தொகை.2a மற்றும் 2b முறையே 13.26% மற்றும் 8.43% ஆகும்.அத்திப்பழத்தில் ஃப்ளக்ஸ் மாதிரிகளின் குறைவான வெகுஜன இழப்பு.2b ஆனது TiO2 மற்றும் SiO2 (முறையே 1843 மற்றும் 1710°C) அதிக உருகும் புள்ளிகள் காரணமாக ஃப்ளக்ஸ் கலவையை உருவாக்கும் முக்கிய ஆக்சைடுகள்54,55 ஆகும், அதே சமயம் TiO2 மற்றும் SiO2 குறைந்த உருகுநிலைகளைக் கொண்டுள்ளன.உருகும் புள்ளி முதன்மை ஆக்சைடு: அத்தியில் உள்ள ஃப்ளக்ஸ் மாதிரியில் CaCO3 (825 °C).2a56.ஃப்ளக்ஸ் கலவைகளில் முதன்மை ஆக்சைடுகளின் உருகுநிலையில் இந்த மாற்றங்கள் ஷி மற்றும் பலர்.54, ரிங்டேலன் மற்றும் பலர்.55 மற்றும் டு மற்றும் பலர்.56.படம் 2a மற்றும் 2b இல் தொடர்ச்சியான எடை இழப்பைக் கவனிக்கும்போது, ​​பிரவுன்57 பரிந்துரைத்தபடி, E1 மற்றும் E2 மின்முனை பூச்சுகளில் பயன்படுத்தப்படும் ஃப்ளக்ஸ் மாதிரிகள் ஒரு-படி சிதைவுக்கு உட்படுகின்றன என்று முடிவு செய்யலாம்.செயல்முறையின் வெப்பநிலை வரம்பை அத்தியில் உள்ள வழித்தோன்றல் வளைவுகளிலிருந்து (wt%) காணலாம்.2a மற்றும் b.ஃப்ளக்ஸ் அமைப்பு கட்ட மாற்றம் மற்றும் படிகமயமாக்கலுக்கு உட்படும் குறிப்பிட்ட வெப்பநிலையை TGA வளைவு துல்லியமாக விவரிக்க முடியாது என்பதால், TGA வழித்தோன்றல் ஒவ்வொரு நிகழ்வின் (கட்ட மாற்றம்) சரியான வெப்பநிலை மதிப்பை ஃப்ளக்ஸ் அமைப்பைத் தயாரிக்க ஒரு எண்டோடெர்மிக் உச்சமாக தீர்மானிக்கப் பயன்படுகிறது.
TGA-DTG வளைவுகள் E1 மின்முனை பூச்சுக்கான (அ) அல்கலைன் ஃப்ளக்ஸ் மற்றும் E2 எலக்ட்ரோடு பூச்சுக்கான அமிலப் பாய்வின் வெப்பச் சிதைவைக் காட்டுகிறது.
DSS 2205 அடிப்படை உலோகம் மற்றும் E1, E2 மற்றும் C மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி செய்யப்பட்ட வெல்ட்களின் ஸ்பெக்ட்ரோஃபோட்டோமெட்ரிக் பகுப்பாய்வு மற்றும் SEM-EDS பகுப்பாய்வு ஆகியவற்றின் முடிவுகளை அட்டவணை 4 காட்டுகிறது.E1 மற்றும் E2 ஆகியவை குரோமியத்தின் (Cr) உள்ளடக்கம் 18.94 மற்றும் 17.04% ஆகக் கடுமையாகக் குறைந்து, மாலிப்டினம் (Mo) உள்ளடக்கம் முறையே 0.06 மற்றும் 0.08% ஆக இருந்தது.E1 மற்றும் E2 மின்முனைகள் கொண்ட வெல்ட்களின் மதிப்புகள் குறைவாக உள்ளன.இது SEM-EDS பகுப்பாய்விலிருந்து ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்திற்கான கணக்கிடப்பட்ட PREN மதிப்புடன் சற்று ஒத்துப்போகிறது.எனவே, அடிப்படையில் அட்டவணை 4 இல் விவரிக்கப்பட்டுள்ளபடி, குறைந்த PREN மதிப்புகளுடன் (E1 மற்றும் E2 இலிருந்து வெல்ட்கள்) பிட்டிங் தொடங்குவதைக் காணலாம்.பின்னர், மின்முனைகள் E1 மற்றும் E2 ஐப் பயன்படுத்தி உற்பத்தி செய்யப்படும் வெல்ட்களில் Cr மற்றும் Mo கலவைக் கூறுகளின் உள்ளடக்கத்தில் குறைப்பு மற்றும் அவற்றின் குறைந்த பிட்டிங் சமமான மதிப்புகள் (PREN) அட்டவணை 4 இல் காட்டப்பட்டுள்ளன, இது ஆக்கிரமிப்பு சூழல்களில் எதிர்ப்பைப் பராமரிப்பதில் சிக்கலை உருவாக்குகிறது. குளோரைடு சூழலில்.- சூழலைக் கொண்டது.ஒப்பீட்டளவில் அதிக நிக்கல் (Ni) உள்ளடக்கம் 11.14% மற்றும் E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளின் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளில் உள்ள மாங்கனீசு உள்ளடக்கத்தின் அனுமதிக்கப்பட்ட வரம்பு ஆகியவை கடல் நீரை உருவகப்படுத்தும் நிலைமைகளில் பயன்படுத்தப்படும் வெல்ட்மென்ட்களின் இயந்திர பண்புகளில் நேர்மறையான விளைவைக் கொண்டிருக்கலாம் (படம். 3 )யுவான் மற்றும் Oy58 மற்றும் Jing et al.48 ஆகியவற்றின் வேலையைப் பயன்படுத்தி, கடுமையான இயக்க நிலைமைகளின் கீழ் DSS வெல்டட் கட்டமைப்புகளின் இயந்திர பண்புகளை மேம்படுத்துவதில் உயர் நிக்கல் மற்றும் மாங்கனீசு கலவைகளின் விளைவில் உருவாக்கப்பட்டன.
(a) UTS மற்றும் 0.2% sag YS மற்றும் (b) சீரான மற்றும் முழு நீளம் மற்றும் அவற்றின் நிலையான விலகல்களுக்கான இழுவிசை சோதனை முடிவுகள்.
90 A மற்றும் 110 A. 3(a) ஆகிய இரண்டு வெவ்வேறு வெல்டிங் மின்னோட்டங்களில், அடிப்படைப் பொருள் (BM) மற்றும் வளர்ந்த மின்முனைகள் (E1 மற்றும் E2) மற்றும் வணிகரீதியில் கிடைக்கக்கூடிய மின்முனை (C) ஆகியவற்றிலிருந்து செய்யப்பட்ட வெல்டிங் மூட்டுகளின் வலிமை பண்புகள் மதிப்பீடு செய்யப்பட்டன. (b) UTS, YS ஐ 0.2% ஆஃப்செட் உடன், அவற்றின் நீட்சி மற்றும் நிலையான விலகல் தரவுகளுடன் காட்டவும்.யுடிஎஸ் மற்றும் ஒய்எஸ் ஆஃப்செட் முடிவுகள் 0.2% படம்.3a மாதிரி எண்ணுக்கான உகந்த மதிப்புகளைக் காட்டுகிறது.1 (பிஎம்), மாதிரி எண்.3 (வெல்ட் E1), மாதிரி எண்.5 (வெல்ட் E2) மற்றும் மாதிரி எண்.6 (C உடன் வெல்ட்கள்) முறையே 878 மற்றும் 616 MPa, 732 மற்றும் 497 MPa, 687 மற்றும் 461 MPa மற்றும் 769 மற்றும் 549 MPa, மற்றும் அவற்றின் நிலையான விலகல்கள்.அத்திப்பழத்திலிருந்து.110 A) முறையே 1, 2, 3, 6 மற்றும் 7 ஆகிய எண்கள் கொண்ட மாதிரிகள், இழுவிசை சோதனையில் 450 MPa க்கும் அதிகமாகவும் மற்றும் Grocki32 ஆல் முன்மொழியப்பட்ட இழுவிசை சோதனையில் 620 MPa க்கும் அதிகமாகவும் குறைந்தபட்ச பரிந்துரைக்கப்பட்ட இழுவிசை பண்புகள் உள்ளன.90 ஏ மற்றும் 110 ஏ வெல்டிங் மின்னோட்டங்களில், எண். 2, எண். 3, எண். 4, எண். 5, எண். 6 மற்றும் எண். 7 ஆகியவற்றால் பிரதிநிதித்துவப்படுத்தப்படும் மின்முனைகள் E1, E2 மற்றும் C கொண்ட வெல்டிங் மாதிரிகளின் நீளம், முறையே, பிளாஸ்டிக் மற்றும் நேர்மையை பிரதிபலிக்கிறது.அடிப்படை உலோகங்கள் தொடர்பானது.குறைந்த நீட்டிப்பு சாத்தியமான வெல்டிங் குறைபாடுகள் அல்லது எலக்ட்ரோடு ஃப்ளக்ஸ் (படம் 3 பி) கலவை மூலம் விளக்கப்பட்டது.BM டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத எஃகு மற்றும் பொதுவாக E1, E2 மற்றும் C மின்முனைகளுடன் கூடிய பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகள் அவற்றின் ஒப்பீட்டளவில் அதிக நிக்கல் உள்ளடக்கம் (அட்டவணை 4) காரணமாக கணிசமாக அதிக இழுவிசை பண்புகளைக் கொண்டுள்ளன என்று முடிவு செய்யலாம், ஆனால் இந்த பண்பு பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளில் காணப்பட்டது.ஃப்ளக்ஸின் அமில கலவையிலிருந்து குறைவான செயல்திறன் E2 பெறப்படுகிறது.வெல்டட் மூட்டுகளின் இயந்திர பண்புகளை மேம்படுத்துதல் மற்றும் கட்ட சமநிலை மற்றும் உறுப்பு விநியோகத்தை கட்டுப்படுத்துதல் ஆகியவற்றில் நிக்கல் கலவைகளின் விளைவை Gunn59 நிரூபித்தது.பேங் மற்றும் பலர் பரிந்துரைத்தபடி, அமில ஃப்ளக்ஸ் கலவைகளிலிருந்து தயாரிக்கப்படும் மின்முனைகளைக் காட்டிலும் அடிப்படை ஃப்ளக்ஸ் கலவைகளிலிருந்து தயாரிக்கப்படும் மின்முனைகள் சிறந்த இயந்திர பண்புகளைக் கொண்டிருக்கின்றன என்ற உண்மையை இது மீண்டும் உறுதிப்படுத்துகிறது.எனவே, நல்ல இழுவிசை பண்புகளுடன் புதிய பூசப்பட்ட மின்முனையின் (E1) பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் பண்புகள் பற்றிய தற்போதைய அறிவுக்கு குறிப்பிடத்தக்க பங்களிப்பு செய்யப்பட்டுள்ளது.
அத்திப்பழத்தில்.புள்ளிவிவரங்கள் 4a மற்றும் 4b ஆகியவை மின்முனைகள் E1, E2 மற்றும் C. 4a ஆகியவற்றின் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் சோதனை மாதிரிகளின் விக்கர்ஸ் மைக்ரோஹார்ட்னெஸ் பண்புகளைக் காட்டுகின்றன.மாதிரியின் இருபுறமும் பெறப்பட்ட கடினத்தன்மை முடிவுகளை 4b காட்டுகிறது.மாதிரிகள் எண் 2, 3, 4 மற்றும் 5 ஆகியவற்றின் வெல்டிங்கின் போது பெறப்பட்ட கடினத்தன்மை மதிப்புகள், மின்முனைகள் E1 மற்றும் E2 உடன் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகள், வெல்டிங் சுழற்சிகளில் திடப்படுத்தலின் போது கரடுமுரடான அமைப்பு காரணமாக இருக்கலாம்.கரடுமுரடான HAZ மற்றும் அனைத்து மாதிரிகள் எண்கள் 2-7 (அட்டவணை 2 இல் உள்ள மாதிரிக் குறியீடுகளைப் பார்க்கவும்) ஆகியவற்றின் நுண்ணிய HAZ மற்றும் நுண்ணிய HAZ ஆகிய இரண்டிலும் கடினத்தன்மையில் கூர்மையான அதிகரிப்பு காணப்பட்டது. குரோமியம்-வெல்ட் மாதிரிகளின் விளைவாக பற்றவைப்பு உமிழ்வுகள் (Cr23C6) நிறைந்தவை.மற்ற வெல்டிங் மாதிரிகள் 2, 3, 4 மற்றும் 5 உடன் ஒப்பிடும்போது, ​​படம் எண் 6 மற்றும் 7 மாதிரிகளின் வெல்டிங் மூட்டுகளின் கடினத்தன்மை மதிப்புகள்.மேலே 4a மற்றும் 4b (அட்டவணை 2).Mohammed et al.61 மற்றும் Nowacki மற்றும் Lukoje62 இன் படி, இது அதிக ஃபெரைட் δ மதிப்பு மற்றும் வெல்டில் உள்ள தூண்டப்பட்ட எஞ்சிய அழுத்தங்கள் மற்றும் வெல்டில் உள்ள Mo மற்றும் Cr போன்ற கலப்பு கூறுகளின் குறைவு காரணமாக இருக்கலாம்.BM பகுதியில் கருதப்படும் அனைத்து சோதனை மாதிரிகளின் கடினத்தன்மை மதிப்புகள் சீரானதாகத் தெரிகிறது.பற்றவைக்கப்பட்ட மாதிரிகளின் கடினத்தன்மை பகுப்பாய்வின் முடிவுகளின் போக்கு மற்ற ஆராய்ச்சியாளர்களின் முடிவுகளுடன் ஒத்துப்போகிறது61,63,64.
டிஎஸ்எஸ் மாதிரிகளின் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் கடினத்தன்மை மதிப்புகள் (அ) பற்றவைக்கப்பட்ட மாதிரிகளின் அரை-பிரிவு மற்றும் (ஆ) பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் முழு பகுதி.
E1, E2 மற்றும் C மின்முனைகள் கொண்ட வெல்டட் DSS 2205 இல் உள்ள பல்வேறு கட்டங்கள் பெறப்பட்டன மற்றும் டிஃப்ராஃப்ரக்ஷன் கோணம் 2\(\theta\)க்கான XRD ஸ்பெக்ட்ரா படம் 5 இல் காட்டப்பட்டுள்ளது. ஆஸ்டினைட்டின் சிகரங்கள் (\(\காமா\) ) மற்றும் ஃபெரைட் (\(\alpha\)) கட்டங்கள் 43° மற்றும் 44° டிஃப்ராஃப்ரக்ஷன் கோணங்களில் அடையாளம் காணப்பட்டன.DSS BM ஆனது ஆஸ்டெனிடிக் (\(\காமா\)) மற்றும் ஃபெரிடிக் (\(\alpha\)) கட்டங்களை மட்டுமே காட்டுகிறது, இது புள்ளிவிவரங்கள் 1 மற்றும் 2 இல் வழங்கப்பட்ட நுண் கட்டமைப்பு முடிவுகளை உறுதிப்படுத்துகிறது. 6c, 7c மற்றும் 9c.DSS BM உடன் காணப்பட்ட ஃபெரிடிக் (\(\alpha\)) கட்டம் மற்றும் மின்முனை C க்கு வெல்டில் உள்ள உயர் உச்சம் ஆகியவை அதன் அரிப்பு எதிர்ப்பைக் குறிக்கின்றன, ஏனெனில் இந்த கட்டம் டேவிசன் மற்றும் ரெட்மாண்ட்66 போன்ற எஃகின் அரிப்பு எதிர்ப்பை அதிகரிப்பதை நோக்கமாகக் கொண்டுள்ளது. Cr மற்றும் Mo போன்ற ஃபெரைட் உறுதிப்படுத்தும் கூறுகளின் இருப்பு, குளோரைடு கொண்ட சூழலில் பொருளின் செயலற்ற படத்தை திறம்பட உறுதிப்படுத்துகிறது.அளவு மெட்டாலோகிராஃபி மூலம் ஃபெரைட்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தை அட்டவணை 5 காட்டுகிறது.மின்முனை C இன் வெல்டட் மூட்டுகளில் ஃபெரைட்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தின் தொகுதி பகுதியின் விகிதம் தோராயமாக அடையப்படுகிறது (≈1: 1).தொகுதி பின்னம் முடிவுகளில் (அட்டவணை 5) E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி வெல்ட்மென்ட்களின் குறைந்த ஃபெரைட் (\(\alpha\)) கட்ட கலவையானது அரிக்கும் சூழலுக்கு சாத்தியமான உணர்திறனைக் குறிக்கிறது, இது மின்வேதியியல் பகுப்பாய்வு மூலம் உறுதிப்படுத்தப்பட்டது.உறுதிப்படுத்தப்பட்டது (படம். 10a,b)), ஏனெனில் ஃபெரைட் கட்டமானது குளோரைடு தூண்டப்பட்ட அழுத்த அரிப்பு விரிசல்களுக்கு எதிராக அதிக வலிமை மற்றும் பாதுகாப்பை வழங்குகிறது.அத்திப்பழத்தில் E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளின் வெல்ட்களில் காணப்பட்ட குறைந்த கடினத்தன்மை மதிப்புகளால் இது மேலும் உறுதிப்படுத்தப்படுகிறது.4a,b, எஃகு அமைப்பில் ஃபெரைட்டின் குறைந்த விகிதத்தால் ஏற்படுகிறது (அட்டவணை 5).E2 மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளில் சமநிலையற்ற ஆஸ்டெனிடிக் (\(\காமா\)) மற்றும் ஃபெரிடிக் (\(\alpha\)) கட்டங்கள் இருப்பது சீரான அரிப்புத் தாக்குதலுக்கு எஃகின் உண்மையான பாதிப்பைக் குறிக்கிறது.மாறாக, BM இன் முடிவுகளுடன் E1 மற்றும் C மின்முனைகளுடன் கூடிய வெல்டட் மூட்டுகளின் இரண்டு-கட்ட ஸ்டீல்களின் XPA ஸ்பெக்ட்ரா பொதுவாக ஆஸ்டெனிடிக் மற்றும் ஃபெரிடிக் உறுதிப்படுத்தும் கூறுகளின் இருப்பைக் குறிக்கிறது, இது கட்டுமானம் மற்றும் பெட்ரோகெமிக்கல் துறையில் பொருள் பயனுள்ளதாக இருக்கும். , ஏனெனில் ஜிமெனெஸ் மற்றும் பலர் வாதிட்டனர்.65;டேவிட்சன் & ரெட்மாண்ட்66;ஷமந்த் மற்றும் பலர்67.
வெவ்வேறு வெல்ட் வடிவவியலைக் கொண்ட E1 மின்முனைகளின் வெல்டட் மூட்டுகளின் ஆப்டிகல் மைக்ரோகிராஃப்கள்: (a) HAZ இணைவுக் கோட்டைக் காட்டுகிறது, (b) HAZ அதிக உருப்பெருக்கத்தில் இணைவுக் கோட்டைக் காட்டுகிறது, (c) ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்திற்கான BM, (d) வெல்ட் வடிவியல் , ( இ) அருகிலுள்ள நிலைமாற்ற மண்டலத்தைக் காட்டுகிறது, (f) HAZ அதிக உருப்பெருக்கத்தில் ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தைக் காட்டுகிறது, (g) வெல்ட் மண்டலம் ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்ட இழுவிசை கட்டத்தைக் காட்டுகிறது.
பல்வேறு வெல்ட் வடிவவியலில் E2 எலக்ட்ரோடு வெல்ட்களின் ஆப்டிகல் மைக்ரோகிராஃப்கள்: (a) HAZ இணைவு கோட்டைக் காட்டுகிறது, (b) HAZ அதிக உருப்பெருக்கத்தில் இணைவு கோட்டைக் காட்டுகிறது, (c) ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் மொத்த கட்டத்திற்கான BM, (d) வெல்ட் வடிவியல் , (இ) ) அருகிலுள்ள மாற்ற மண்டலத்தைக் காட்டுகிறது, (f) HAZ அதிக உருப்பெருக்கத்தில் ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தைக் காட்டுகிறது, (g) வெல்டிங் மண்டலம் ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தைக் காட்டுகிறது.
புள்ளிவிவரங்கள் 6a-c மற்றும், எடுத்துக்காட்டாக, பல்வேறு வெல்டிங் வடிவவியலில் E1 மின்முனையைப் பயன்படுத்தி வெல்டிங் செய்யப்பட்ட DSS மூட்டுகளின் மெட்டாலோகிராஃபிக் கட்டமைப்பைக் காட்டுகின்றன (படம் 6d), ஆப்டிகல் மைக்ரோகிராஃப்கள் வெவ்வேறு உருப்பெருக்கங்களில் எங்கு எடுக்கப்பட்டன என்பதைக் குறிக்கிறது.அத்திப்பழத்தில்.6a, b, f - பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் மாற்றம் மண்டலங்கள், ஃபெரைட்-ஆஸ்டெனைட்டின் கட்ட சமநிலை கட்டமைப்பை நிரூபிக்கிறது.புள்ளிவிவரங்கள் 7a-c மற்றும் எடுத்துக்காட்டாக, பல்வேறு வெல்டிங் வடிவவியலில் E2 மின்முனையைப் பயன்படுத்தி வெல்டிங் செய்யப்பட்ட DSS இணைப்பின் OM ஐக் காட்டுகிறது (படம் 7d), வெவ்வேறு உருப்பெருக்கங்களில் OM பகுப்பாய்வு புள்ளிகளைக் குறிக்கிறது.அத்திப்பழத்தில்.7a,b,f ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் சமநிலையில் ஒரு வெல்டட் மூட்டின் மாறுதல் மண்டலத்தைக் காட்டுகிறது.வெல்டிங் மண்டலத்தில் (WZ) OM படம் காட்டப்பட்டுள்ளது.1 மற்றும் அத்தி.2. முறையே E1 மற்றும் E2 6g மற்றும் 7g மின்முனைகளுக்கான வெல்ட்ஸ்.BM இல் OM படம் 1 மற்றும் 2 இல் காட்டப்பட்டுள்ளது. படம்.6c, e மற்றும் 7c, e ஆகியவை முறையே மின்முனைகள் E1 மற்றும் E2 உடன் வெல்டட் மூட்டுகளின் வழக்கைக் காட்டுகின்றன.ஒளி பகுதி ஆஸ்டினைட் கட்டம் மற்றும் அடர் கருப்பு பகுதி ஃபெரைட் கட்டமாகும்.இணைவுக் கோட்டிற்கு அருகிலுள்ள வெப்ப-பாதிக்கப்பட்ட மண்டலத்தில் (HAZ) கட்ட சமநிலை Cr2N படிவுகள் உருவாவதைக் குறிக்கிறது, SEM-BSE மைக்ரோகிராஃப்களில் படம்.8a,b மற்றும் படம் உறுதி.9a,b.படத்தில் உள்ள மாதிரிகளின் ஃபெரைட் கட்டத்தில் Cr2N இன் இருப்பு காணப்படுகிறது.8a,b மற்றும் SEM-EMF புள்ளி பகுப்பாய்வு மற்றும் பற்றவைக்கப்பட்ட பகுதிகளின் EMF வரி வரைபடங்கள் (படம். 9a-b) மூலம் உறுதிப்படுத்தப்பட்டது, அதிக வெல்டிங் வெப்ப வெப்பநிலை காரணமாகும்.வெல்டில் அதிக வெப்பநிலை நைட்ரஜனின் பரவல் குணகத்தை அதிகரிக்கிறது என்பதால், சுழற்சியானது குரோமியம் மற்றும் நைட்ரஜனின் அறிமுகத்தை துரிதப்படுத்துகிறது.நைட்ரஜன் உள்ளடக்கத்தைப் பொருட்படுத்தாமல், Cr2N பொதுவாக ஃபெரைட் தானியங்கள், தானிய எல்லைகள் மற்றும் α/\(\gamma\) எல்லைகளில் டெபாசிட் செய்யப்படுகிறது, மேலும் பரிந்துரைத்தபடி, Ramirez et al.68 மற்றும் Herenyu et al.69 ஆகியோரின் ஆய்வுகளை இந்த முடிவுகள் ஆதரிக்கின்றன. மற்ற ஆராய்ச்சியாளர்கள்.70.71.
(அ) ​​ஸ்பாட் SEM-EMF பகுப்பாய்வு (1, 2 மற்றும் 3) E2 உடன் பற்றவைக்கப்பட்ட கூட்டு;
பிரதிநிதி மாதிரிகளின் மேற்பரப்பு உருவவியல் மற்றும் அவற்றுடன் தொடர்புடைய EMF கள் படத்தில் காட்டப்பட்டுள்ளன.10a-c.அத்திப்பழத்தில்.புள்ளிவிவரங்கள் 10a மற்றும் 10b, SEM மைக்ரோகிராஃப்கள் மற்றும் வெல்டிங் மண்டலத்தில் முறையே E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் EMF ஸ்பெக்ட்ரா மற்றும் அத்தி.10c ஆனது SEM மைக்ரோகிராஃப்கள் மற்றும் OM இன் EMF ஸ்பெக்ட்ராவை ஆஸ்டெனைட் (\(\காமா\)) மற்றும் ஃபெரைட் (\(\alpha\)) படிநிலைகளை எந்த படிவுகளும் இல்லாமல் காட்டுகிறது.படம் 10a இல் EDS ஸ்பெக்ட்ரமில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, 6.25 wt.% Ni உடன் ஒப்பிடும்போது Cr (21.69 wt.%) மற்றும் Mo (2.65 wt.%) ஆகியவற்றின் சதவீதம் ஃபெரைட்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தின் தொடர்புடைய சமநிலையின் உணர்வைத் தருகிறது.குரோமியம் (15.97 wt.%) மற்றும் மாலிப்டினம் (1.06 wt.%) ஆகியவற்றின் உள்ளடக்கத்தில் அதிகக் குறைப்புக் கொண்ட நுண் கட்டமைப்பு, மின்முனை E2 இன் வெல்டட் மூட்டின் நுண் கட்டமைப்பில் உள்ள நிக்கலின் (10.08 wt.%) உயர் உள்ளடக்கத்துடன் ஒப்பிடப்படுகிறது. அத்தி.1. ஒப்பிடு.EMF ஸ்பெக்ட்ரம் 10b.அத்தியில் காட்டப்பட்டுள்ள WZ இல் காணப்படும் நுண்ணிய-தானிய ஆஸ்டெனிடிக் அமைப்புடன் கூடிய அசிகுலர் வடிவம்.10b ஆனது வெல்டில் உள்ள ferritizing தனிமங்களின் (Cr மற்றும் Mo) சாத்தியமான குறைவு மற்றும் குரோமியம் நைட்ரைடு (Cr2N) - ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தின் மழைப்பொழிவை உறுதிப்படுத்துகிறது.டிஎஸ்எஸ் வெல்டட் மூட்டுகளின் ஆஸ்டெனிடிக் (\(\காமா\)) மற்றும் ஃபெரிடிக் (\(\ஆல்பா\)) கட்டங்களின் எல்லைகளில் மழைப்பொழிவு துகள்களின் விநியோகம் இந்த அறிக்கையை உறுதிப்படுத்துகிறது72,73,74.படம் 10b இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி எஃகு 59,75 இன் உள்ளூர் அரிப்பு எதிர்ப்பை மேம்படுத்தும் ஒரு செயலற்ற திரைப்படத்தை உருவாக்குவதற்கான முக்கிய உறுப்பு Cr என கருதப்படுவதால், இது அதன் மோசமான அரிப்பை செயல்திறன் விளைவிக்கிறது.படம். 10c இல் உள்ள SEM மைக்ரோகிராஃபில் உள்ள BM, அதன் EDS ஸ்பெக்ட்ரம் முடிவுகள் Cr (23.32 wt%), Mo (3.33 wt%) மற்றும் Ni (6.32 wt) ஆகியவற்றைக் காட்டுவதால், வலுவான தானிய சுத்திகரிப்பு என்பதைக் காணலாம்.%) நல்ல இரசாயன பண்புகள்.%) DSS76 கட்டமைப்பின் ஃபெரைட்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தின் சமநிலை நுண் கட்டமைப்பைச் சரிபார்க்க ஒரு முக்கியமான கலப்பு உறுப்பு.E1 மின்முனையின் வெல்டட் மூட்டுகளின் கலவையான EMF ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபிக் பகுப்பாய்வின் முடிவுகள், கட்டுமானத்திலும் சற்று ஆக்ரோஷமான சூழல்களிலும் அதன் பயன்பாட்டை நியாயப்படுத்துகின்றன, ஏனெனில் நுண் கட்டமைப்பில் உள்ள ஆஸ்டெனைட் ஃபார்மர்கள் மற்றும் ஃபெரைட் நிலைப்படுத்திகள் DSS AISI 220541.72 தரநிலையுடன் 77. பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளுக்கு இணங்குகின்றன.
பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் SEM மைக்ரோகிராஃப்கள், அங்கு (a) வெல்டிங் மண்டலத்தின் மின்முனை E1 ஒரு EMF ஸ்பெக்ட்ரம் உள்ளது, (b) வெல்டிங் மண்டலத்தின் எலக்ட்ரோடு E2 ஒரு EMF ஸ்பெக்ட்ரம் உள்ளது, (c) OM ஒரு EMF ஸ்பெக்ட்ரம் உள்ளது.
நடைமுறையில், டிஎஸ்எஸ் வெல்ட்கள் முழு ஃபெரிடிக் (எஃப்-மோட்) முறையில் திடப்படுத்தப்படுகின்றன, ஆஸ்டெனைட் கருக்கள் ஃபெரிடிக் சோல்வஸ் வெப்பநிலைக்குக் கீழே நியூக்ளியேட் செய்யப்படுகின்றன, இது முக்கியமாக குரோமியம் மற்றும் நிக்கல் சமமான விகிதத்தை (Creq/Nieq) சார்ந்துள்ளது. 1.95 பயன்முறை F) ஃபெரைட் கட்டத்தில் ஃபெரைட்-உருவாக்கும் கூறுகளாக Cr மற்றும் Mo ஆகியவற்றின் வலுவான பரவல் திறன் காரணமாக எஃகின் இந்த விளைவை சில ஆராய்ச்சியாளர்கள் கவனித்துள்ளனர்.DSS 2205 BM ஆனது அதிக அளவு Cr மற்றும் Mo (அதிக Creq ஐக் காட்டுகிறது) உள்ளது என்பது தெளிவாகிறது, ஆனால் E1, E2 மற்றும் C மின்முனைகள் கொண்ட வெல்டினை விட குறைவான Ni உள்ளடக்கம் உள்ளது, இது அதிக Creq/Nieq விகிதத்திற்கு பங்களிக்கிறது.இது தற்போதைய ஆய்விலும் தெளிவாகத் தெரிகிறது, அட்டவணை 4 இல் காட்டப்பட்டுள்ளது, அங்கு Creq/Nieq விகிதம் 1.95 க்கு மேல் DSS 2205 BM க்கு தீர்மானிக்கப்பட்டது.மொத்தப் பயன்முறையின் (FA பயன்முறை) அதிக உள்ளடக்கம் காரணமாக, E1, E2 மற்றும் C ஆகிய மின்முனைகளைக் கொண்ட வெல்ட்கள் முறையே ஆஸ்டெனிடிக்-ஃபெரிடிக் பயன்முறை (AF பயன்முறை), ஆஸ்டெனிடிக் முறை (A முறை) மற்றும் ஃபெரிடிக்-ஆஸ்டெனிடிக் பயன்முறையில் கடினமடைவதைக் காணலாம். .), அட்டவணை 4 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, வெல்டில் Ni, Cr மற்றும் Mo இன் உள்ளடக்கம் குறைவாக உள்ளது, இது Creq/Nieq விகிதம் BM ஐ விட குறைவாக இருப்பதைக் குறிக்கிறது.E2 எலக்ட்ரோடு வெல்ட்களில் உள்ள முதன்மை ஃபெரைட் ஒரு வெர்மிகுலர் ஃபெரைட் உருவ அமைப்பைக் கொண்டிருந்தது மற்றும் அட்டவணை 4 இல் விவரிக்கப்பட்டுள்ளபடி தீர்மானிக்கப்பட்ட Creq/Nieq விகிதம் 1.20 ஆக இருந்தது.
அத்திப்பழத்தில்.11a 3.5% NaCl கரைசலில் AISI DSS 2205 எஃகு அமைப்பிற்கான ஓப்பன் சர்க்யூட் பொட்டன்ஷியல் (OCP) நேரத்தைக் காட்டுகிறது.ORP வளைவு மிகவும் நேர்மறை ஆற்றலை நோக்கி நகர்வதைக் காணலாம், இது உலோக மாதிரியின் மேற்பரப்பில் ஒரு செயலற்ற படத்தின் தோற்றத்தைக் குறிக்கிறது, சாத்தியக்கூறுகளின் வீழ்ச்சி பொதுவான அரிப்பைக் குறிக்கிறது, மேலும் காலப்போக்கில் கிட்டத்தட்ட நிலையான ஆற்றல் ஒரு உருவாவதைக் குறிக்கிறது. காலப்போக்கில் செயலற்ற படம்., மாதிரியின் மேற்பரப்பு நிலையானது மற்றும் ஒட்டும் 77ஐக் கொண்டுள்ளது. மாதிரி 7 (C-எலக்ட்ரோடுடன் வெல்ட் கூட்டு) தவிர, 3.5% NaCl கரைசலைக் கொண்ட எலக்ட்ரோலைட்டில் உள்ள அனைத்து மாதிரிகளுக்கும் நிலையான நிலைமைகளின் கீழ் சோதனை அடி மூலக்கூறுகளை வளைவுகள் சித்தரிக்கின்றன. இது சிறிய உறுதியற்ற தன்மையைக் காட்டுகிறது.இந்த உறுதியற்ற தன்மையை கரைசலில் குளோரைடு அயனிகள் (Cl-) இருப்பதை ஒப்பிடலாம், இது அரிப்பு எதிர்வினையை பெரிதும் துரிதப்படுத்துகிறது, இதனால் அரிப்பின் அளவு அதிகரிக்கிறது.OCP ஸ்கேனிங்கின் போது பயன்படுத்தப்பட்ட சாத்தியக்கூறுகள் இல்லாமல் அவதானிப்புகள், எதிர்வினையில் உள்ள Cl ஆக்கிரமிப்பு சூழல்களில் மாதிரிகளின் எதிர்ப்பு மற்றும் வெப்ப இயக்கவியல் நிலைத்தன்மையை பாதிக்கும் என்பதைக் காட்டுகிறது.மா மற்றும் பலர்.81 மற்றும் லோதோ மற்றும் பலர்.5 அடி மூலக்கூறுகளில் செயலற்ற படங்களின் சிதைவை விரைவுபடுத்துவதில் Cl- பங்கு வகிக்கிறது என்ற கூற்றை உறுதிப்படுத்தியது, அதன் மூலம் மேலும் அணிய உதவுகிறது.
ஆய்வு செய்யப்பட்ட மாதிரிகளின் மின்வேதியியல் பகுப்பாய்வு: (அ) நேரத்தைப் பொறுத்து RSD இன் பரிணாமம் மற்றும் (b) 3.5% NaCl கரைசலில் மாதிரிகளின் பொட்டென்டோடைனமிக் துருவமுனைப்பு.
அத்திப்பழத்தில்.11b 3.5% NaCl கரைசலின் செல்வாக்கின் கீழ் E1, E2 மற்றும் C ஆகிய மின்முனைகளின் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் பொட்டென்டோடைனமிக் துருவமுனைப்பு வளைவுகளின் (PPC) ஒப்பீட்டு பகுப்பாய்வை வழங்குகிறது.PPC இல் வெல்டட் BM மாதிரிகள் மற்றும் 3.5% NaCl தீர்வு செயலற்ற நடத்தையைக் காட்டியது.PPC வளைவுகளிலிருந்து பெறப்பட்ட மாதிரிகளின் மின்வேதியியல் பகுப்பாய்வு அளவுருக்கள் அட்டவணை 5 காட்டுகிறது, அதாவது Ecorr (அரிப்பு சாத்தியம்) மற்றும் Epit (குழி அரிப்பு திறன்) மற்றும் அவற்றுடன் தொடர்புடைய விலகல்கள்.மற்ற மாதிரிகள் எண். 2 மற்றும் எண். 5 உடன் ஒப்பிடும்போது, ​​மின்முனைகள் E1 மற்றும் E2 மூலம் பற்றவைக்கப்பட்ட, மாதிரிகள் எண். 1 மற்றும் எண். 7 (BM மற்றும் மின்முனை C உடன் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகள்) NaCl கரைசலில் அரிப்பைத் துளைப்பதற்கான அதிக திறனைக் காட்டியது (படம். 11b )பிந்தையவற்றுடன் ஒப்பிடும்போது முந்தையவற்றின் அதிக செயலற்ற பண்புகள் எஃகின் நுண் கட்டமைப்பு கலவையின் சமநிலை (ஆஸ்டெனிடிக் மற்றும் ஃபெரிடிக் கட்டங்கள்) மற்றும் கலப்பு கூறுகளின் செறிவு காரணமாகும்.நுண் கட்டமைப்பில் ஃபெரைட் மற்றும் ஆஸ்டெனிடிக் கட்டங்கள் இருப்பதால், ரெசென்டியா மற்றும் பலர்.82 ஆக்கிரமிப்பு ஊடகங்களில் DSS இன் செயலற்ற நடத்தையை ஆதரித்தது.E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளுடன் பற்றவைக்கப்பட்ட மாதிரிகளின் குறைந்த செயல்திறன், வெல்டிங் மண்டலத்தில் (WZ) Cr மற்றும் Mo போன்ற முக்கிய கலப்பு உறுப்புகளின் குறைபாட்டுடன் தொடர்புடையது, ஏனெனில் அவை ஃபெரைட் கட்டத்தை (Cr மற்றும் Mo) உறுதிப்படுத்துகின்றன. passivators ஆக்ஸிஜனேற்றப்பட்ட இரும்புகளின் ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தில் உள்ள உலோகக்கலவைகள்.பிட்டிங் எதிர்ப்பில் இந்த உறுப்புகளின் விளைவு ஃபெரிடிக் கட்டத்தில் இருப்பதை விட ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தில் அதிகமாக இருக்கும்.இந்த காரணத்திற்காக, துருவமுனைப்பு வளைவின் முதல் செயலற்ற பகுதியுடன் தொடர்புடைய ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தை விட ஃபெரிடிக் கட்டம் வேகமாக செயலற்ற நிலைக்கு உட்படுகிறது.இந்த கூறுகள் ஃபெரிடிக் கட்டத்துடன் ஒப்பிடும்போது ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தில் அதிக பிட்டிங் எதிர்ப்பின் காரணமாக டிஎஸ்எஸ் பிட்டிங் எதிர்ப்பில் குறிப்பிடத்தக்க தாக்கத்தை ஏற்படுத்துகின்றன.எனவே, ஃபெரைட் கட்டத்தின் வேகமான செயலிழப்பு ஆஸ்டினைட் கட்டத்தை விட 81% அதிகமாகும்.Cl-in கரைசல் எஃகு ஃபிலிமின் செயலற்ற திறனில் வலுவான எதிர்மறை விளைவைக் கொண்டிருந்தாலும்83.இதன் விளைவாக, மாதிரியின் செயலற்ற படத்தின் நிலைத்தன்மை வெகுவாகக் குறைக்கப்படும்84.அட்டவணையில் இருந்து.E2 மின்முனையுடன் கூடிய வெல்டட் மூட்டுகளுடன் ஒப்பிடும்போது, ​​E1 மின்முனையுடன் கூடிய வெல்டட் மூட்டுகளின் அரிப்பைத் திறன் (Ecorr) கரைசலில் ஓரளவு நிலையானதாக இருப்பதையும் 6 காட்டுகிறது.அத்தியில் E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி வெல்ட்களின் கடினத்தன்மையின் குறைந்த மதிப்புகளால் இது உறுதிப்படுத்தப்படுகிறது.4a,b, இது ஃபெரைட்டின் குறைந்த உள்ளடக்கம் (அட்டவணை 5) மற்றும் எஃகு கட்டமைப்பில் குரோமியம் மற்றும் மாலிப்டினம் (அட்டவணை 4) ஆகியவற்றின் குறைந்த உள்ளடக்கம் காரணமாகும்.உருவகப்படுத்தப்பட்ட கடல் சூழலில் இரும்புகளின் அரிப்பு எதிர்ப்பு வெல்டிங் மின்னோட்டத்தை குறைப்பதன் மூலம் அதிகரிக்கிறது மற்றும் குறைந்த Cr மற்றும் Mo உள்ளடக்கம் மற்றும் குறைந்த ஃபெரைட் உள்ளடக்கத்துடன் குறைகிறது என்று முடிவு செய்யலாம்.இந்த அறிக்கையானது வெல்டிங் எஃகுகளின் அரிப்பு ஒருமைப்பாட்டின் மீது வெல்டிங் மின்னோட்டம் போன்ற வெல்டிங் அளவுருக்களின் தாக்கத்தின் மீது சலீம் மற்றும் பலர் மேற்கொண்ட ஆய்வுடன் ஒத்துப்போகிறது.தந்துகி உறிஞ்சுதல் மற்றும் பரவல் போன்ற பல்வேறு வழிகளில் குளோரைடு எஃகுக்குள் ஊடுருவிச் செல்வதால், சீரற்ற வடிவம் மற்றும் ஆழம் கொண்ட குழிகள் (குழி அரிப்பு) உருவாகின்றன.பொறிமுறையானது அதிக pH தீர்வுகளில் கணிசமாக வேறுபடுகிறது, அங்கு சுற்றியுள்ள (OH-) குழுக்கள் எஃகு மேற்பரப்பில் ஈர்க்கப்படுகின்றன, செயலற்ற படத்தை உறுதிப்படுத்துகிறது மற்றும் எஃகு மேற்பரப்புக்கு கூடுதல் பாதுகாப்பை வழங்குகிறது25,86.மாதிரிகள் எண். 1 மற்றும் எண். 7 இன் சிறந்த அரிப்பு எதிர்ப்பு முக்கியமாக எஃகு அமைப்பில் அதிக அளவு δ-ஃபெரைட் (அட்டவணை 5) மற்றும் அதிக அளவு Cr மற்றும் Mo (அட்டவணை 4) ஆகியவற்றின் காரணமாக உள்ளது. குழி அரிப்பு நிலை முக்கியமாக எஃகு, டிஎஸ்எஸ் முறை மூலம் பற்றவைக்கப்படுகிறது, பாகங்களின் ஆஸ்டெனிடிக்-கட்ட அமைப்பில் உள்ளது.இவ்வாறு, கலவையின் இரசாயன கலவை பற்றவைக்கப்பட்ட கூட்டு 87,88 இன் அரிப்பு செயல்திறனில் ஒரு தீர்க்கமான பாத்திரத்தை வகிக்கிறது.கூடுதலாக, இந்த ஆய்வில் E1 மற்றும் C மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி வெல்டிங் செய்யப்பட்ட மாதிரிகள் OCP வளைவுகளிலிருந்து E2 மின்முனையைப் பயன்படுத்தி பற்றவைக்கப்பட்டதை விட PPC வளைவுகளிலிருந்து குறைந்த Ecorr மதிப்புகளைக் காட்டியது (அட்டவணை 5).எனவே, அனோட் பகுதி குறைந்த திறனில் தொடங்குகிறது.இந்த மாற்றம் முக்கியமாக மாதிரியின் மேற்பரப்பில் உருவாகும் செயலற்ற அடுக்கின் பகுதி உறுதிப்படுத்தல் மற்றும் OCP89 இன் முழு உறுதிப்படுத்தலை அடைவதற்கு முன்பு ஏற்படும் கத்தோடிக் துருவமுனைப்பு காரணமாகும்.அத்திப்பழத்தில்.12a மற்றும் b பல்வேறு வெல்டிங் நிலைமைகளின் கீழ் சோதனை ரீதியாக அரிக்கப்பட்ட மாதிரிகளின் 3D ஆப்டிகல் சுயவிவரப் படங்களைக் காட்டுகின்றன.110 A (படம். 12b) இன் உயர் வெல்டிங் மின்னோட்டத்தால் உருவாக்கப்பட்ட குறைந்த குழி அரிப்புத் திறனுடன் மாதிரிகளின் குழி அரிப்பு அளவு அதிகரிப்பதைக் காணலாம், இது குறைந்த வெல்டிங் மின்னோட்ட விகிதத்துடன் வெல்ட்களுக்குப் பெறப்பட்ட குழி அரிப்பு அளவோடு ஒப்பிடலாம். 90 A. (படம் 12a).3.5% NaCl கரைசலில் அடி மூலக்கூறை வெளிப்படுத்துவதன் மூலம் மேற்பரப்பு செயலற்ற படலத்தை அழிப்பதற்காக மாதிரியின் மேற்பரப்பில் ஸ்லிப் பேண்டுகள் உருவாகின்றன என்ற Mohammed90 இன் கூற்றை இது உறுதிப்படுத்துகிறது, இதனால் குளோரைடு தாக்கத் தொடங்குகிறது, இதனால் பொருள் கரைகிறது.
அட்டவணை 4 இல் உள்ள SEM-EDS பகுப்பாய்வு ஒவ்வொரு ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தின் PREN மதிப்புகள் அனைத்து வெல்ட்கள் மற்றும் BM இல் உள்ள ஃபெரைட்டை விட அதிகமாக இருப்பதைக் காட்டுகிறது.ஃபெரைட்/ஆஸ்டெனைட் இடைமுகத்தில் பிட்டிங்கின் துவக்கமானது, இந்த பகுதிகளில் ஏற்படும் தனிமங்களின் சீரற்ற தன்மை மற்றும் பிரிவினையின் காரணமாக செயலற்ற பொருள் அடுக்கின் அழிவை துரிதப்படுத்துகிறது91.பிட்டிங் ரெசிஸ்டன்ஸ் சமமான (PRE) மதிப்பு அதிகமாக இருக்கும் ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தைப் போலல்லாமல், ஃபெரிடிக் கட்டத்தில் பிட்டிங் துவக்கம் குறைந்த PRE மதிப்பு (அட்டவணை 4) காரணமாகும்.ஆஸ்டெனைட் கட்டத்தில் கணிசமான அளவு ஆஸ்டெனைட் நிலைப்படுத்தி (நைட்ரஜன் கரைதிறன்) இருப்பதாகத் தெரிகிறது, இது இந்த தனிமத்தின் அதிக செறிவை வழங்குகிறது, எனவே, பிட்டிங்92 க்கு அதிக எதிர்ப்பை வழங்குகிறது.
அத்திப்பழத்தில்.E1, E2 மற்றும் C வெல்ட்களுக்கான முக்கியமான பிட்டிங் வெப்பநிலை வளைவுகளை படம் 13 காட்டுகிறது.ASTM சோதனையின் போது குழியின் காரணமாக தற்போதைய அடர்த்தி 100 µA/cm2 ஆக அதிகரித்திருப்பதால், E1 உடன் @110A வெல்ட் குறைந்தபட்சம் 27.5°C மற்றும் E2 @ 90A சாலிடரிங் CPT 40 ஐக் காட்டுகிறது என்பது தெளிவாகிறது. °C, மற்றும் C@110A இல் அதிகபட்ச CPT 41°C ஆகும்.கவனிக்கப்பட்ட முடிவுகள் துருவமுனைப்பு சோதனைகளின் கவனிக்கப்பட்ட முடிவுகளுடன் நல்ல உடன்பாட்டில் உள்ளன.
டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத எஃகு வெல்ட்களின் இயந்திர பண்புகள் மற்றும் அரிப்பு நடத்தை புதிய E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி ஆராயப்பட்டது.SMAW செயல்பாட்டில் பயன்படுத்தப்படும் கார மின்முனை (E1) மற்றும் அமில மின்முனை (E2) ஆகியவை 1.7 மிமீ ஒட்டுமொத்த கவரேஜ் விகிதம் மற்றும் 2.40 மற்றும் 0.40 என்ற அல்கலைன் குறியீட்டுடன் ஃப்ளக்ஸ் கலவையுடன் வெற்றிகரமாக பூசப்பட்டன.ஒரு செயலற்ற ஊடகத்தில் TGA ஐப் பயன்படுத்தி தயாரிக்கப்பட்ட ஃப்ளக்ஸ்களின் வெப்ப நிலைத்தன்மை மதிப்பீடு செய்யப்பட்டுள்ளது.ஃப்ளக்ஸ் மேட்ரிக்ஸில் TiO2 (%) இன் உயர் உள்ளடக்கம் இருப்பதால், அடிப்படை ஃப்ளக்ஸ் (E1) பூசப்பட்ட மின்முனைகளுடன் ஒப்பிடும்போது அமிலப் பாய்ச்சுடன் (E2) பூசப்பட்ட மின்முனைகளுக்கான பற்றவைப்புகளை அகற்றுவதை மேம்படுத்தியது.இரண்டு பூசப்பட்ட மின்முனைகள் (E1 மற்றும் E2) ஒரு நல்ல வில் தொடக்கத் திறனைக் கொண்டிருந்தாலும்.வெல்டிங் நிலைமைகள், குறிப்பாக வெப்ப உள்ளீடு, வெல்டிங் மின்னோட்டம் மற்றும் வேகம், DSS 2205 வெல்ட்களின் ஆஸ்டெனைட்/ஃபெரைட் கட்ட சமநிலை மற்றும் வெல்டின் சிறந்த இயந்திர பண்புகளை அடைவதில் முக்கிய பங்கு வகிக்கிறது.E1 மின்முனையுடன் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகள் சிறந்த இழுவிசைப் பண்புகளைக் காட்டின (வெட்டி 0.2% YS = 497 MPa மற்றும் UTS = 732 MPa), அமிலப் பாய்ச்சல் பூசிய மின்முனைகளுடன் ஒப்பிடும்போது அடிப்படை ஃப்ளக்ஸ் பூசப்பட்ட மின்முனைகள் உயர் அடிப்படைக் குறியீட்டைக் கொண்டுள்ளன என்பதை உறுதிப்படுத்துகிறது.மின்முனைகள் குறைந்த காரத்தன்மையுடன் சிறந்த இயந்திர பண்புகளை வெளிப்படுத்துகின்றன.ஒரு புதிய பூச்சு (E1 மற்றும் E2) கொண்ட மின்முனைகளின் பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளில் ஃபெரைட்-ஆஸ்டெனிடிக் கட்டத்தின் சமநிலை இல்லை என்பது வெளிப்படையானது, இது OES மற்றும் SEM-EDS பகுப்பாய்வைப் பயன்படுத்தி வெளிப்படுத்தப்பட்டது மற்றும் தொகுதிப் பகுதியால் அளவிடப்படுகிறது. பற்றவைப்பு.மெட்டாலோகிராபி அவர்களின் SEM ஆய்வை உறுதிப்படுத்தியது.நுண் கட்டமைப்புகள்.இது முக்கியமாக Cr மற்றும் Mo போன்ற கலப்பு கூறுகளின் குறைவு மற்றும் வெல்டிங்கின் போது Cr2N இன் சாத்தியமான வெளியீடு காரணமாகும், இது EDS லைன் ஸ்கேனிங்கால் உறுதிப்படுத்தப்படுகிறது.எஃகு கட்டமைப்பில் ஃபெரைட் மற்றும் கலப்பு கூறுகளின் குறைந்த விகிதத்தின் காரணமாக E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளுடன் கூடிய வெல்ட்களில் காணப்பட்ட குறைந்த கடினத்தன்மை மதிப்புகளால் இது மேலும் ஆதரிக்கப்படுகிறது.E2 மின்முனையைப் பயன்படுத்தும் வெல்ட்களுடன் ஒப்பிடும்போது E1 மின்முனையைப் பயன்படுத்தும் வெல்ட்களின் எவிடென்ஸ் அரிஷன் பொட்டன்ஷியல் (Ecorr) கரைசல் அரிப்பை எதிர்க்கும் சக்தியை சற்று குறைவாகவே நிரூபித்தது.ஃப்ளக்ஸ் கலவை கலவை கலவை இல்லாமல் 3.5% NaCl சூழலில் சோதிக்கப்பட்ட வெல்ட்களில் புதிதாக உருவாக்கப்பட்ட மின்முனைகளின் செயல்திறனை இது உறுதிப்படுத்துகிறது.வெல்டிங் மின்னோட்டத்தை குறைப்பதன் மூலம் உருவகப்படுத்தப்பட்ட கடல் சூழலில் அரிப்பு எதிர்ப்பு அதிகரிக்கிறது என்று முடிவு செய்யலாம்.எனவே, கார்பைடுகள் மற்றும் நைட்ரைடுகளின் மழைப்பொழிவு மற்றும் E1 மற்றும் E2 மின்முனைகளைப் பயன்படுத்தி பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் அரிப்பு எதிர்ப்பின் குறைவு ஆகியவை அதிகரித்த வெல்டிங் மின்னோட்டத்தால் விளக்கப்பட்டன, இது இரட்டை நோக்கம் கொண்ட இரும்புகளிலிருந்து பற்றவைக்கப்பட்ட மூட்டுகளின் கட்ட சமநிலையில் ஏற்றத்தாழ்வுக்கு வழிவகுத்தது.
கோரிக்கையின் பேரில், இந்த ஆய்வுக்கான தரவு அந்தந்த ஆசிரியரால் வழங்கப்படும்.
Smook O., Nenonen P., Hanninen H. மற்றும் Liimatainen ஜேஉலோகம்.அல்மா மேட்டர்.டிரான்ஸ்.A 35, 2103. https://doi.org/10.1007/s11661-004-0158-9 (2004).
நவீன துருப்பிடிக்காத இரும்புகளை இணைப்பதில் குரோடா டி., இக்யூச்சி கே. மற்றும் கிடகாவா ஒய். மைக்ரோஸ்ட்ரக்சர் கட்டுப்பாடு.மேம்பட்ட மின்காந்த ஆற்றலுக்கான புதிய பொருட்களைச் செயலாக்குவதில், 419–422 (2005).
Smook O. நவீன தூள் உலோகவியலின் சூப்பர் டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத இரும்புகளின் நுண் கட்டமைப்பு மற்றும் பண்புகள்.ராயல் இன்ஸ்டிடியூட் ஆப் டெக்னாலஜி (2004)
லோட்டோ, டிஆர் மற்றும் பாபலோலா, பி. போலரைசேஷன் அரிஷன் நடத்தை மற்றும் அமில குளோரைடு செறிவுகளில் ஏஏ1070 அலுமினியம் மற்றும் சிலிக்கான் கார்பைடு மேட்ரிக்ஸ் கலவைகளின் நுண் கட்டமைப்பு பகுப்பாய்வு.வற்புறுத்தும் பொறியாளர்.4, 1. https://doi.org/10.1080/23311916.2017.1422229 (2017).
Bonollo F., Tiziani A. மற்றும் Ferro P. வெல்டிங் செயல்முறை, நுண் கட்டமைப்பு மாற்றம் மற்றும் டூப்ளக்ஸ் மற்றும் சூப்பர் டூப்ளக்ஸ் துருப்பிடிக்காத ஸ்டீல்களின் இறுதி பண்புகள்.டூப்ளக்ஸ் ஸ்டெயின்லெஸ் ஸ்டீல் 141–159 (ஜான் விலே & சன்ஸ் இன்க்., ஹோபோகன், 2013).
Kisasoz A., Gurel S. மற்றும் Karaaslan A. இரண்டு-கட்ட அரிப்பை-எதிர்ப்பு இரும்புகளில் படிவு செயல்முறையின் மீது அனீலிங் நேரம் மற்றும் குளிரூட்டும் வீதத்தின் தாக்கம்.உலோகம்.அறிவியல்.வெப்ப சிகிச்சை.57, 544. https://doi.org/10.1007/s11041-016-9919-5 (2016).
ஸ்ரீகாந்த் எஸ், சரவணன் பி, கோவிந்தராஜன் பி, சிசோடியா எஸ் மற்றும் ரவி கே. ஆய்வகத்தில் சிறந்த இயந்திர மற்றும் அரிப்பு பண்புகளுடன் லீன் டூப்ளக்ஸ் ஸ்டெயின்லெஸ் ஸ்டீல்களை (எல்டிஎஸ்எஸ்) உருவாக்கினர்.மேம்பட்ட அல்மா மேட்டர்.சேமிப்பு தொட்டி.794, 714 (2013).
முர்குட் பி., பசெபானி எஸ். மற்றும் இஸ்கோர் ஓபி மெட்டலர்ஜிக்கல் மற்றும் எலக்ட்ரோகெமிக்கல் பண்புகள் சூப்பர் டூப்ளக்ஸ் ஸ்டெயின்லெஸ் ஸ்டீல் கிளாடிங் லேயர்களில் லேசான எஃகு அடி மூலக்கூறுகளில் லேசர் அலாய் மூலம் பெறப்படுகிறது.அறிவியல்.ரெப். 10, 10162. https://doi.org/10.1038/s41598-020-67249-2 (2020).
ஓஷிமா, டி., கபரா, ஒய். மற்றும் குரோடா, கே. ஆஸ்டெனிடிக் ஸ்டெயின்லெஸ் ஸ்டீல்களில் நிக்கலைச் சேமிப்பதற்கான முயற்சிகள்.ISIJ இன்டர்நேஷனல் 47, 359. https://doi.org/10.2355/isijinternational.47.359 (2007).
Oikawa W., Tsuge S. மற்றும் Gonome F. லீன் டூப்ளக்ஸ் ஸ்டெயின்லெஸ் ஸ்டீல்களின் புதிய தொடரின் உருவாக்கம்.NSSC 2120™, NSSC™ 2351. NIPPON ஸ்டீல் தொழில்நுட்ப அறிக்கை எண். 126 (2021).